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参数资料
| 型号： | ISPLSI 5512VE-155LF256 |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 2/25页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC PLD ISP 256I/O 6.5NS 256FPBGA |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | ispLSI® 5000VE |
| 可编程类型： | 系统内可编程 |
| 最大延迟时间 tpd(1)： | 6.5ns |
| 电压电源 - 内部： | 3 V ~ 3.6 V |
| 逻辑元件/逻辑块数目： | 16 |
| 宏单元数： | 512 |
| 门数： | 24000 |
| 输入/输出数： | 192 |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 256-BGA |
| 供应商设备封装： | 256-FPBGA（17x17） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | ISPLSI5512VE-155LF256 |
Specifications ispLSI 5512VE
10
Figure 8. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
Data to be
driven out
Valid Data
Data Captured
btsu
T
bth
T
btcl
T
btch
T
btcp
T
btvo
T
btco
T
btoz
T
btcpsu
T
btcph
T
btuov
T
btuco
T
btuoz
T
SYMBOL
PARAMETER
MIN
MAX
UNITS
tbtcp
TCK [BSCAN test] clock pulse width
125
–
ns
tbtch
TCK [BSCAN test] pulse width high
62.5
–
ns
tbtcl
TCK [BSCAN test] pulse width low
62.5
–
ns
tbtsu
TCK [BSCAN test] setup time
25
–
ns
tbth
TCK [BSCAN test] hold time
25
–
ns
trf
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
–
mV/ns
tbtco
TAP controller falling edge of clock to valid output
–25
ns
tbtoz
TAP controller falling edge of clock to data output disable
–25
ns
tbtvo
TAP controller falling edge of clock to data output enable
–25
ns
tbtcpsu
BSCAN test Capture register setup time
25
–
ns
tbtcph
BSCAN test Capture register hold time
25
–
ns
tbtuco
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
–50
ns
tbtuoz
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
–50
ns
tbtuov
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
–50
ns
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| GCM12DTKI | CONN EDGECARD 24POS DIP .156 SLD |
| GEC07DREH-S13 | CONN EDGECARD 14POS .100 EXTEND |
| NDTD0512C | CONV DC/DC 3W 5VIN 12VOUT DIP24 |
| V300A36E400BG3 | CONVERTER MOD DC/DC 36V 400W |
| VI-2TY-CY-F2 | CONVERTER MOD DC/DC 3.3V 33W |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| ISPLSI5512VE-155LF256 | 功能描述:CPLD - 复杂可编程逻辑器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存储类型:EEPROM 大电池数量:128 最大工作频率:333 MHz 延迟时间:2.7 ns 可编程输入/输出端数量:64 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 90 C 最小工作温度:0 C 封装 / 箱体:TQFP-100 |
| ISPLSI5512VE-155LF256-125I | 制造商:Lattice Semiconductor Corporation 功能描述:COMPLEX-EEPLD, 512-CELL, 8NS PROP DELAY, 256 Pin, Plastic, BGA |
| ISPLSI5512VE-155LF256I | 制造商:Lattice Semiconductor Corporation 功能描述:COMPLEX-EEPLD, 512-CELL, 8NS PROP DELAY, 256 Pin, Plastic, BGA |
| ISPLSI5512VE-155LF388 | 功能描述:CPLD - 复杂可编程逻辑器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存储类型:EEPROM 大电池数量:128 最大工作频率:333 MHz 延迟时间:2.7 ns 可编程输入/输出端数量:64 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 90 C 最小工作温度:0 C 封装 / 箱体:TQFP-100 |
| ISPLSI5512VE-80LB272I | 功能描述:CPLD - 复杂可编程逻辑器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存储类型:EEPROM 大电池数量:128 最大工作频率:333 MHz 延迟时间:2.7 ns 可编程输入/输出端数量:64 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 90 C 最小工作温度:0 C 封装 / 箱体:TQFP-100 |
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