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参数资料
| 型号： | LFECP10E-4FN256I |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 127/163页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 10.2KLUTS 256FPBGA |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | ECP |
| 逻辑元件/单元数： | 10200 |
| RAM 位总计： | 282624 |
| 输入/输出数： | 195 |
| 电源电压： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 100°C |
| 封装/外壳： | 256-BGA |
| 供应商设备封装： | 256-FPBGA（17x17） |
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3-30
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 3-21 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 3-6.
Figure 3-21. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 3-6. Test Fixture Required Components, Non-Terminated Interfaces
Test Condition
R1
CL
Timing Ref.
VT
LVTTL and other LVCMOS settings (L -> H, H -> L)
0pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
—
LVCMOS 2.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.8 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.2 = VCCIO/2
—
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> H)
188
0pF
VCCIO/2
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> L)
VCCIO/2
VOH
LVCMOS 2.5 I/O (H -> Z)
VOH - 0.15
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (L -> Z)
VOL + 0.15
VOH
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
DUT
VT
R1
CL*
Test Point
*CL Includes Test Fixture and Probe Capacitance
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PDF描述 |
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