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参数资料
| 型号： | MB9BF117TPMC |
| 厂商： | FUJITSU LTD |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, FLASH, RISC MICROCONTROLLER, PQFP176 |
| 封装： | 24 X 24 MM, 1.70 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, LEAD FREE, PLASTIC, LQFP-176 |
| 文件页数： | 42/116页 |
| 文件大小： | 1051K |
| 代理商： | MB9BF117TPMC |
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31
MB9B110T Series
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL
r0.1
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL
r0.1
DS706-00016-0v01-E
Pin No
Module
Pin name
Function
LQFP-176 LQFP-144 BGA-192
TIOA14_0
151
121
D8
TIOA14_1
78
-
N10
TIOA14_2
Base timer ch.14 TIOA pin
102
86
J10
TIOB14_0
164
134
B6
TIOB14_1
79
-
L10
Base Timer
14
TIOB14_2
Base timer ch.14 TIOB pin
103
87
J9
TIOA15_0
73
65
N9
TIOA15_1
80
-
K10
TIOA15_2
Base timer ch.15 TIOA pin
104
88
H10
TIOB15_0
74
66
M9
TIOB15_1
81
-
M10
Base Timer
15
TIOB15_2
Base timer ch.15 TIOB pin
105
89
H9
SWCLK
Serial wire debug interface clock input
135
111
A12
SWDIO
Serial wire debug interface data input /
output
137
113
B12
SWO
Serial wire viewer output
138
114
B11
TCK
J-TAG test clock input
135
111
A12
TDI
J-TAG test data input
136
112
C12
TDO
J-TAG debug data output
138
114
B11
TMS
J-TAG test mode state input/output
137
113
B12
TRACECLK
Trace CLK output of ETM
12
E4
TRACED0
8
D3
TRACED1
9
D4
TRACED2
10
E2
TRACED3
Trace data output of ETM
11
E3
Debugger
TRSTX
J-TAG test reset Input
134
110
B13
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PDF描述 |
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