参数资料
型号: MC145152DW2
厂商: Freescale Semiconductor
文件页数: 7/24页
文件大小: 0K
描述: IC PAR-IN PLL FREQ SYNTH 28-SOIC
标准包装: 26
类型: PLL 时钟/频率合成器
PLL:
输入: 时钟
输出: CMOS
电路数: 1
比率 - 输入:输出: 1:1
差分 - 输入:输出: 无/无
频率 - 最大: 25MHz
除法器/乘法器: 是/无
电源电压: 3 V ~ 9 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商设备封装: 28-SOIC W
包装: 管件
MC145151-2 and MC145152-2 Electrical Characteristics
MC145151-2 and MC145152-2 Technical Data, Rev. 5
Freescale Semiconductor
15
Figure 9. Switching Waveforms
Table 4. AC Electrical Characteristics
(CL = 50 pF, Input tr = tf = 10 ns)
Symbol
Parameter
VDD
V
Guaranteed Limit
25
°C
Guaranteed Limit
-40 to 85
°C
Unit
tPLH, tPHL Maximum Propagation Delay, fin to MC
3
5
9
110
60
35
120
70
40
ns
tPHL
Maximum Propagation Delay, ENB to SW1, SW2
3
5
9
160
80
50
180
95
60
ns
tw
Output Pulse Width,
φ
R, φV, and LD with fR in Phase with fV
3
5
9
25 to 200
20 to 100
10 to 70
25 to 260
20 to 125
10 to 80
ns
tTLH
Maximum Output Transition Time, MC
3
5
9
115
60
40
115
75
60
ns
tTHL
Maximum Output Transition Time, MC
3
5
9
60
34
30
70
45
38
ns
tTLH, tTHL Maximum Output Transition Time, LD
3
5
9
180
90
70
200
120
90
ns
tTLH, tTHL Maximum Output Transition Time, Other Outputs
3
5
9
160
80
60
175
100
65
ns
TEST
POINT
DEVICE
UNDER
TEST
CL*
* Includes all probe and fixture capacitance.
TEST
POINT
DEVICE
UNDER
TEST
CL*
* Includes all probe and fixture capacitance.
VDD
15 k
tTLH
90%
10%
tTHL
ANY
OUTPUT
Figure 9a. Maximum Propagation Delay
Figure 9b. Output Pulse Width
50%
OUTPUT
50%
INPUT
tPLH
- VSS
VDD
tPHL
50%
φ
R, φV, LD*
*fR in phase with fV.
tw
OUTPUT
Figure 9c. Maximum Output Transition Time
Figure 9d. Test Circuit
Figure 9e. Test Circuit
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PDF描述
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