参数资料
| 型号： | MC74HCT366ADR2G |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 5/7页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BUFFER INV HEX 3ST 16-SOIC |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | 74HCT |
| 逻辑类型： | 逆变器，缓冲器 |
| 电路数： | 6 |
| 输入数： | 1 |
| 特点： | 三态 |
| 电源电压： | 2 V ~ 6 V |
| 电流 - 静态（最大值）： | 4µA |
| 输出电流高，低： | 7.8mA，7.8mA |
| 逻辑电平 - 低： | 0.8V |
| 逻辑电平 - 高： | 2V |
| 额定电压和最大 CL 时的最大传播延迟： | 20ns @ 6V，50pF |
| 工作温度： | -55°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 供应商设备封装： | 16-SOIC |
| 封装/外壳： | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
MC74HCT366A
http://onsemi.com
5
SWITCHING WAVEFORMS
(VI = 0 to 3 V, VM = 1.3 V)
VCC
GND
tf
tr
INPUT A
(VI)
OUTPUT Y
10%
VM
90%
10%
50%
90%
tTLH
tPLH
tPHL
tTHL
OUTPUT ENABLE
(VI)
OUTPUT Y
VM
50%
90%
10%
tPZL
tPLZ
tPZH
tPHZ
VCC
GND
HIGH
IMPEDANCE
VOL
VOH
HIGH
IMPEDANCE
Figure 1.
Figure 2.
TEST CIRCUITS
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL.
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH.
1 k
Ω
Figure 3.
Figure 4.
INPUT A
OUTPUT ENABLE 1
OUTPUT ENABLE 2
VCC
TO OTHER
FIVE BUFFERS
Y
LOGIC DETAIL
ONE OF 6
BUFFERS
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| MC74HCT373ADTR2 | 功能描述:闭锁 5V Octal D-Type RoHS:否 制造商:Micrel 电路数量:1 逻辑类型:CMOS 逻辑系列:TTL 极性:Non-Inverting 输出线路数量:9 高电平输出电流: 低电平输出电流: 传播延迟时间: 电源电压-最大:12 V 电源电压-最小:5 V 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 封装 / 箱体:SOIC-16 封装:Reel |
| MC74HCT373ADTR2G | 功能描述:闭锁 5V Octal D-Type RoHS:否 制造商:Micrel 电路数量:1 逻辑类型:CMOS 逻辑系列:TTL 极性:Non-Inverting 输出线路数量:9 高电平输出电流: 低电平输出电流: 传播延迟时间: 电源电压-最大:12 V 电源电压-最小:5 V 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 封装 / 箱体:SOIC-16 封装:Reel |
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