参数资料
| 型号： | MC74HCT374AN |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 5/8页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FLIP FLOP OCT D 3ST 20-DIP |
| 产品变化通告： | LTB Notification 03/Jan/2008 |
| 标准包装： | 18 |
| 系列： | 74HCT |
| 功能： | 标准 |
| 类型： | D 型总线 |
| 输出类型： | 三态非反相 |
| 元件数： | 1 |
| 每个元件的位元数： | 8 |
| 频率 - 时钟： | 30MHz |
| 延迟时间 - 传输： | 31ns |
| 触发器类型： | 正边沿 |
| 输出电流高，低： | 6mA，6mA |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -55°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 通孔 |
| 封装/外壳： | 20-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 包装： | 管件 |
MC74HCT374A
http://onsemi.com
5
SWITCHING WAVEFORMS
Figure 1.
tr
tf
VCC
GND
tTHL
tTLH
90%
1.3 V
10%
2.7 V
1.3 V
0.3 V
CLOCK
tPLH
tPHL
Q
tw
1/fmax
1.3 V
OUTPUT
ENABLE
Q
tPZL
tPLZ
tPZH
tPHZ
10%
90%
3 V
GND
HIGH
IMPEDANCE
VOL
VOH
HIGH
IMPEDANCE
1.3 V
DATA
CLOCK
3 V
GND
VALID
th
tsu
1.3 V
Figure 2.
Figure 3.
Q
TEST CIRCUITS
Figure 4.
EXPANDED LOGIC DIAGRAM
C
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
347813
14
17
18
Q0
Q1
Q2
Q3
Q4
Q5
Q6
Q7
2569
12
15
16
19
DQ
CLOCK
OUTPUT
ENABLE
11
1
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH
1 k
W
Figure 5.
C
DQ
C
DQ
C
DQ
C
DQ
C
DQ
C
DQ
C
DQ
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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