参数资料
型号: MCF52233CVM60
厂商: Freescale Semiconductor
文件页数: 39/55页
文件大小: 0K
描述: IC MCU 32BIT 60MHZ 121MAPBGA
标准包装: 189
系列: MCF5223x
核心处理器: Coldfire V2
芯体尺寸: 32-位
速度: 60MHz
连通性: 以太网,I²C,SPI,UART/USART
外围设备: DMA,LVD,POR,PWM,WDT
输入/输出数: 73
程序存储器容量: 256KB(256K x 8)
程序存储器类型: 闪存
RAM 容量: 32K x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd): 3 V ~ 3.6 V
数据转换器: A/D 8x12b
振荡器型: 内部
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 121-LBGA
包装: 托盘
MCF52235 ColdFire Microcontroller Data Sheet, Rev. 10
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
44
2.13
JTAG and Boundary Scan Timing
Figure 14. Test Clock Input Timing
Table 39. JTAG and Boundary Scan Timing
Num
Characteristics1
1 JTAG_EN is expected to be a static signal. Hence, it is not associated with any timing.
Symbol
Min
Max
Unit
J1
TCLK frequency of operation
fJCYC
DC
1/4
fsys/2
J2
TCLK cycle period
tJCYC
4
t
CYC
—ns
J3
TCLK clock pulse width
tJCW
26
ns
J4
TCLK rise and fall times
tJCRF
03
ns
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
tBSDST
4—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
tBSDHT
26
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
tBSDV
033
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high Z
tBSDZ
033
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
tTAPBST
4—
ns
J10
TMS, TDI input data hold time after TCLK rise
tTAPBHT
10
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
tTDODV
026
ns
J12
TCLK low to TDO high Z
tTDODZ
08
ns
J13
TRST assert time
tTRSTAT
100
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
tTRSTST
10
ns
TCLK
VIL
VIH
J3
J4
J2
(input)
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