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参数资料
型号： MK30DN512ZVLQ10R
厂商： Freescale Semiconductor
文件页数： 18/74页
文件大小： 0K
描述： IC ARM CORTEX MCU 512KB 144LQFP
标准包装： 500
系列： Kinetis
核心处理器： ARM? Cortex?-M4
芯体尺寸： 32-位
速度： 100MHz
连通性： CAN，EBI/EMI，I²C，IrDA，SDHC，SPI，UART/USART
外围设备： DMA，I²S，LCD，LVD，POR，PWM，WDT
输入/输出数： 102
程序存储器容量： 512KB（512K x 8）
程序存储器类型： 闪存
RAM 容量： 128K x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： 1.71 V ~ 3.6 V
数据转换器： A/D 37x16b，D/A 2x12b
振荡器型： 内部
工作温度： -40°C ~ 105°C
封装/外壳： 144-LQFP
包装： *
Table 14. JTAG full voltage range electricals (continued)
Symbol
Description
Min.
Max.
Unit
J3
TCLK clock pulse width
Boundary Scan
JTAG and CJTAG
Serial Wire Debug
50
25
12.5
—
ns
J4
TCLK rise and fall times
—
3
ns
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
20
—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
0
—
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
—
25
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high-Z
—
25
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
8
—
ns
J10
TMS, TDI input data hold time after TCLK rise
1.4
—
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
—
22.1
ns
J12
TCLK low to TDO high-Z
—
22.1
ns
J13
TRST assert time
100
—
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
8
—
ns
J2
J3
J4
TCLK (input)
Figure 5. Test clock input timing
Peripheral operating requirements and behaviors
K30 Sub-Family Data Sheet Data Sheet, Rev. 7, 02/2013.
Freescale Semiconductor, Inc.
25
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PDF描述
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参数描述
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