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参数资料
| 型号： | MSP430F2234IRHA |
| 厂商： | TEXAS INSTRUMENTS INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 16-BIT, FLASH, 16 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQCC40 |
| 封装： | GREEN, PLASTIC, QFN-40 |
| 文件页数： | 89/94页 |
| 文件大小： | 1583K |
| 代理商： | MSP430F2234IRHA |
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MSP430F22x2
MSP430F22x4
SLAS504E
– JULY 2006 – REVISED MARCH 2011
Table 3. Terminal Functions, MSP430F22x2 (continued)
TERMINAL
NO.
I/O
DESCRIPTION
NAME
YFF
DA
RHA
General-purpose digital I/O pin
P3.3/UCB0CLK/UCA0STE
B6
14
12
I/O
USCI_B0 clock input/output / USCI_A0 slave transmit enable
General-purpose digital I/O pin
P3.4/UCA0TXD/
G6
25
23
I/O
USCI_A0 transmit data output in UART mode, slave in/master out in SPI
UCA0SIMO
mode
General-purpose digital I/O pin
P3.5/UCA0RXD/
G5
26
24
I/O
UCA0SOMI
USCI_A0 receive data input in UART mode, slave out/master in SPI mode
General-purpose digital I/O pin
P3.6/A6
F4
27
25
I/O
ADC10 analog input A6
General-purpose digital I/O pin
P3.7/A7
G4
28
26
I/O
ADC10 analog input A7
General-purpose digital I/O pin
P4.0/TB0
D6
17
15
I/O
Timer_B, capture: CCI0A input, compare: OUT0 output
General-purpose digital I/O pin
P4.1/TB1
D7
18
16
I/O
Timer_B, capture: CCI1A input, compare: OUT1 output
General-purpose digital I/O pin
P4.2/TB2
E6
19
17
I/O
Timer_B, capture: CCI2A input, compare: OUT2 output
General-purpose digital I/O pin
P4.3/TB0/A12
E7
20
18
I/O
Timer_B, capture: CCI0B input, compare: OUT0 output
ADC10 analog input A12
General-purpose digital I/O pin
P4.4/TB1/A13
F7
21
19
I/O
Timer_B, capture: CCI1B input, compare: OUT1 output
ADC10 analog input A13
General-purpose digital I/O pin
P4.5/TB2/A14
F6
22
20
I/O
Timer_B, compare: OUT2 output
ADC10 analog input A14
General-purpose digital I/O pin
P4.6/TBOUTH/A15
G7
23
21
I/O
Timer_B, switch all TB0 to TB3 outputs to high impedance
ADC10 analog input A15
General-purpose digital I/O pin
P4.7/TBCLK
F5
24
22
I/O
Timer_B, clock signal TBCLK input
Reset or nonmaskable interrupt input
RST/NMI/SBWTDIO
B3
7
5
I
Spy-Bi-Wire test data input/output during programming and test
Selects test mode for JTAG pins on Port 1. The device protection fuse is
connected to TEST.
TEST/SBWTCK
D1
1
37
I
Spy-Bi-Wire test clock input during programming and test
C1,
D3,
DVCC
2
38, 39
Digital supply voltage
D4,
E4, E5
C6,
AVCC
C7,
16
14
Analog supply voltage
D5
A3,
B1,
DVSS
B2,
4
1, 4
Digital ground reference
C3,
C4
Copyright
2006–2011, Texas Instruments Incorporated
9
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PDF描述 |
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