参数资料
型号: NUP1301U,115
厂商: NXP Semiconductors
文件页数: 7/13页
文件大小: 0K
描述: IC DIODE ARRAY ESD SC-70
标准包装: 1
电压 - 反向隔离(标准值): 80V
电压 - 击穿: 100V
功率(瓦特): 220W
电极标记: 单向
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: SC-70,SOT-323
供应商设备封装: SC-70
包装: 标准包装
其它名称: 568-8409-6
NXP Semiconductors
ESD TESTER
NUP1301
Ultra low capacitance ESD protection array
4 GHz DIGITAL
acc. to IEC 61000-4-2
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
RZ
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
CZ
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 ?
GND
GND
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
GND
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network), pin 3 to 1 and 2
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
(IEC 61000-4-2 network), pin 3 to 1 and 2
006aab567
Fig 7.
NUP1301_1
ESD clamping test setup and waveforms
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 01 — 11 May 2009
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