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参数资料
| 型号： | SPC5644AF0MLU2 |
| 厂商： | FREESCALE SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | MICROCONTROLLER, PQFP176 |
| 封装： | 24 X 24 MM, 1.40 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, LEAD FREE, LQFP-176 |
| 文件页数： | 119/142页 |
| 文件大小： | 886K |
| 代理商： | SPC5644AF0MLU2 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页当前第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页
MPC5644A Microcontroller Data Sheet, Rev. 4
Preliminary—Subject to Change Without Notice
Electrical characteristics
Freescale Semiconductor
78
B. Joiner and V. Adams, “Measurement and Simulation of Junction to Board Thermal Resistance and Its Application
in Thermal Modeling,” Proceedings of SemiTherm, San Diego, 1999, pp. 212-220.
3.4
EMI (electromagnetic interference) characteristics
3.5
Electrostatic discharge (ESD) characteristics
Table 12. EMI Testing Specifications1
1 EMI testing and I/O port waveforms per SAE J1752/3 issued 1995-03 and IEC 61967-2.
Symbol
Parameter
Conditions
fOSC/fBUS
Frequency
Level
(Max)
Unit
Radiated
emissions,
electric field
VRE_TEM
VDDREG =5.25V;
TA =+25 °C
150 kHz – 30 MHz
RBW 9 kHz, Step
Size 5kHz
30 MHz – 1 GHz -
RBW 120 kHz, Step
Size 80 kHz
16 MHz crystal
40 MHz bus
No PLL frequency
modulation
150 kHz – 50 MHz
20
dB
V
50 – 150 MHz
20
150 – 500 MHz
26
500 – 1000 MHz
26
IEC Level
K
—
SAE Level
3
—
16 MHz crystal
40 MHz bus
±2% PLL
frequency
modulation
150 kHz– 50 MHz
13
dB
V
50 – 150 MHz
13
150 – 500 MHz
11
500 – 1000 MHz
13
IEC Level
L
—
SAE Level
2
—
Table 13. ESD ratings1,2
1 All ESD testing is in conformity with CDF-AEC-Q100 Stress Test Qualification for Automotive Grade Integrated
Circuits.
Symbol
Parameter
Conditions
Value
Unit
—
SR
ESD for Human Body Model (HBM)
—
2000
V
R1
SR
HBM circuit description
—
1500
CSR
—
100
pF
—
SR
ESD for field induced charge Model
(FDCM)
All pins
500
V
Corner pins
750
—
SR
Number of pulses per pin
Positive pulses (HBM)
1
—
Negative pulses (HBM)
1
—
SR
Number of pulses
—
1
—
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SPC5644AF0MVZ2 | MICROCONTROLLER, PBGA324 |
| SPC5643AF0MLU2 | MICROCONTROLLER, PQFP176 |
| SPC5643AF0MMG2 | MICROCONTROLLER, PBGA208 |
| SPC5643AF0MVZ3 | MICROCONTROLLER, PBGA324 |
| SPEAR-09-P022 | 1 CHANNEL(S), 1000M bps, I2C BUS CONTROLLER, PBGA420 |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| SPC5644AF0MLU3 | 功能描述:32位微控制器 - MCU 32BIT3MB Flsh192KRAM RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
| SPC5644AF0MMG1 | 功能描述:32位微控制器 - MCU 32BIT3MB Flsh192KRAM RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
| SPC5644AF0MMG1R | 功能描述:32位微控制器 - MCU 32BIT3MB Flsh192KRAM RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
| SPC5644AF0MMG2 | 功能描述:32位微控制器 - MCU 32BIT3MB Flsh192KRAM RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
| SPC5644AF0MMG2R | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述: |
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