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参数资料
| 型号： | ST72324BLJ2TA/XXX |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP44 |
| 封装： | 10 X 10 MM, TQFP-44 |
| 文件页数： | 38/151页 |
| 文件大小： | 1209K |
| 代理商： | ST72324BLJ2TA/XXX |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页当前第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页
ST72F324L, ST72324BL
132/151
12.12 10-BIT ADC CHARACTERISTICS
Subject to general operating conditions for VDD, fCPU, and TA unless otherwise specified.
Figure 77. RAIN max. vs fADC with CAIN=0pF
3)
Figure 78. Recommended CAIN & RAIN values.
4)
Notes:
1. When VAREF and VSSA pins are not available on the pinout, the ADC refers to VDD and VSS.
2. Any added external serial resistor will downgrade the ADC accuracy (especially for resistance greater than 10k
). Data
based on characterization results, not tested in production.
3. CPARASITIC represents the capacitance of the PCB (dependent on soldering and PCB layout quality) plus the pad ca-
pacitance (3pF). A high CPARASITIC value will downgrade conversion accuracy. To remedy this, fADC should be reduced.
4. This graph shows that depending on the input signal variation (fAIN), CAIN can be increased for stabilization time and
decreased to allow the use of a larger serial resistor (RAIN).
5.The analog inputs of ROM devices are designed to be negative current tolerant. On Flash devices, injecting negative
current on any of the analog input pins significantly reduces the accuracy of any conversion being performed on any an-
alog input.
Analog pins can be protected against negative injection by adding a Schottky diode (pin to ground). Injecting negative
current on digital input pins degrades ADC accuracy especially if performed on a pin close to the analog input pins.
Any positive injection current within the limits specified for IINJ(PIN) and ΣIINJ(PIN) in Section 12.8 does not affect the ADC
accuracy.
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
fADC
ADC clock frequency
0.4
1
MHz
VAREF
Analog reference voltage 1)
VDD
V
VAIN
Conversion voltage range 2)
VSSA
VAREF
Ilkg
Positive input leakage current for analog
input
-40°C
≤T
A≤85°C range
1
A
ROM devices: negative input leakage
current on analog pins 5)
VIN<VSS, | IIN |< 400A
on adjacent analog pin
56
A
RAIN
External input impedance
see
and
782)3)4)
k
CAIN
External capacitor on analog input
pF
fAIN
Variation freq. of analog input signal
Hz
CADC
Internal sample and hold capacitor
12
pF
tADC
Conversion time (Sample+Hold)
fCPU=4MHz, SPEED=0 fADC=1MHz
15
s
tADC
- No of sample capacitor loading cycles
- No. of Hold conversion cycles
4
11
1/fADC
0
5
10
15
20
25
30
35
40
45
010
30
70
CPARASITIC (pF)
Max
.R
AI
N
(
K
ohm)
1 MHz
0.1
1
10
100
1000
0.01
0.1
1
10
fAIN(KHz)
Max.
R
AI
N
(Kohm)
Cain 10 nF
Cain 22 nF
Cain 47 nF
1
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PDF描述 |
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