- 您现在的位置：买卖IC网 > PDF目录98145 > ST72521AR7T1/XXX (STMICROELECTRONICS) 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP64 PDF资料下载
参数资料
| 型号： | ST72521AR7T1/XXX |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP64 |
| 封装： | 10 X 10 MM, PLASTIC, TQFP-64 |
| 文件页数： | 82/199页 |
| 文件大小： | 1979K |
| 代理商： | ST72521AR7T1/XXX |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页当前第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页第194页第195页第196页第197页第198页第199页
ST72521M/R/AR
172/199
EMC CHARACTERISTICS (Cont’d)
12.7.3.2 Static and Dynamic Latch-Up
s
LU: 3 complementary static tests are required
on 10 parts to assess the latch-up performance.
A supply overvoltage (applied to each power
supply pin) and a current injection (applied to
each input, output and configurable I/O pin) are
performed on each sample. This test conforms
to the EIA/JESD 78 IC latch-up standard. For
more
details,
refer
to
the
AN1181
ST7
application note.
s
DLU: Electro-Static Discharges (one positive
then one negative test) are applied to each pin
of 3 samples when the micro is running to
assess the latch-up performance in dynamic
mode. Power supplies are set to the typical
values, the oscillator is connected as near as
possible to the pins of the micro and the
component is put in reset mode. This test
conforms to the IEC1000-4-2 and SAEJ1752/3
standards and is described in Figure 90. For
more
details,
refer
to
the
AN1181
ST7
application note.
12.7.3.3 Designing hardened software to avoid
noise problems
EMC characterization and optimization are per-
formed at component level with a typical applica-
tion environment and simplified MCU software. It
should be noted that good EMC performance is
highly dependent on the user application and the
software in particular.
Therefore it is recommended that the user applies
EMC software optimization and prequalification
tests in relation with the EMC level requested for
his application.
Software recommendations:
The software flowchart must include the manage-
ment of runaway conditions such as:
– Corrupted program counter
– Unexpected reset
– Critical Data corruption (control registers...)
Prequalification trials:
Most of the common failures (unexpected reset
and program counter corruption) can be repro-
duced by manually forcing a low state on the RE-
SET pin or the Oscillator pins for 1 second.
To complete these trials, ESD stress can be ap-
plied directly on the device, over the range of
specification values. When unexpected behaviour
is detected, the software can be hardened to pre-
vent unrecoverable errors occurring (see applica-
tion note AN1015).
Electrical Sensitivities
Figure 90. Simplified Diagram of the ESD Generator for DLU
Notes:
1. Class description: A Class is an STMicroelectronics internal specification. All its limits are higher than the JEDEC spec-
ifications, that means when a device belongs to Class A it exceeds the JEDEC standard. B Class strictly covers all the
JEDEC criteria (international standard).
2. Schaffner NSG435 with a pointed test finger.
Symbol
Parameter
Conditions
Class 1)
LU
Static latch-up class
TA=+25°C
TA=+85°C
TA=+125°C
A
DLU
Dynamic latch-up class
VDD=5.5V, fOSC=4MHz, TA=+25°C
A
RCH=50M
RD=330
CS=150pF
ESD
HV RELAY
DISCHARGE TIP
DISCHARGE
RETURN CONNECTION
GENERATOR 2)
ST7
VDD
VSS
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ST72521R7T5/XXX | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP64 |
| ST72521AR7TC/XXX | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP64 |
| ST72521M9T3/XXX | 8-BIT, MROM, MICROCONTROLLER, PQFP80 |
| ST72622K2B1 | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP44 |
| ST72P621J4B1 | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PDIP32 |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| ST72561K4 | 制造商:STMicroelectronics 功能描述:LOW SPEED USB 8-BIT MCU WITH 3 ENDPOINTS,FLASH MEMORY, - Bulk |
| ST72589-EMU2 | 功能描述:仿真器/模拟器 ST7 Emulator Board RoHS:否 制造商:Blackhawk 产品:System Trace Emulators 工具用于评估:C6000, C5000, C2000, OMAP, DAVINCI, SITARA, TMS470, TMS570, ARM 7/9, ARM Cortex A8/R4/M3 用于:XDS560v2 |
| ST72611F1 | 制造商:STMicroelectronics 功能描述:LOW SPEED USB 8-BIT MCU WITH 3 ENDPOINTS,FLASH MEMORY, - Bulk |
| ST7263-EMU2 | 功能描述:仿真器/模拟器 ST7 Emulator Board RoHS:否 制造商:Blackhawk 产品:System Trace Emulators 工具用于评估:C6000, C5000, C2000, OMAP, DAVINCI, SITARA, TMS470, TMS570, ARM 7/9, ARM Cortex A8/R4/M3 用于:XDS560v2 |
| ST7265X-EVAL/MS | 制造商:STMicroelectronics 功能描述:ST6 EVAL BD - Bulk |
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。