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参数资料
| 型号： | STR710FZT3 |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 32-BIT, FLASH, 66 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQFP144 |
| 封装： | 20 X 20 MM, MS-026-BFB, LQFP-144 |
| 文件页数： | 53/78页 |
| 文件大小： | 2018K |
| 代理商： | STR710FZT3 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页当前第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页
STR71xF
Electrical parameters
57/78
See Figure 25, Figure 26, Figure 27 and Figure 28 for related timing diagrams.
1. Data based on characterisation results, not tested in production.
1. Data based on characterisation results, not tested in production.
Table 34.
EMI read operation
Symbol
Parameter
Test Conditions
Value
Unit
Min1)
Typ
Max1)
tRCR
Read to CSn Removal Time
MCLK=50 MHz
4 wait states
50 pf load on all pins
19
tMCLK
21
ns
tRP
Read Pulse Time
98
tC
100
ns
tRDS
Read Data Setup Time
22
ns
tRDH
Read Data Hold Time
0
ns
tRAS
Read Address Setup Time
27
1.5*tM
CLK
33
ns
tRAH
Read Address Hold Time
0.65
2
ns
tRAT
Read Address Turnaround
Time
1.9
3.25
ns
tRRT
RDn Turnaround Time
20
tMCLK
21
ns
Table 35.
EMI write operation
Symbol
Parameter
Test conditions
Value
Unit
Min1)
Typ
Max1)
tWCR
WEn to CSn Removal Time
MCLK=50 MHz
3 wait states
50 pf load on all pins
20
tMCLK
22.5
ns
tWP
Write Pulse Time
77.5
tC
80
ns
tWDS1
Write Data Setup Time 1
97
tC +
tMCLK
100
ns
tWDS2
Write Data Setup Time 2
77
tC
80
ns
tWDH
Write Data Hold Time
20
tMCLK
23
ns
tWAS
Write Address Setup Time
27
1.5*tMCLK
33
ns
tWAH
Write Address Hold Time
0.6
3
ns
tWAT
Write Address Turnaround
Time
1.75
4.1
ns
tWWT
WEn Turnaround Time
20
tMCLK
23
ns
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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| STR711FZH1TR | 32-BIT, FLASH, 66 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PBGA144 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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