参数资料
型号: SYS32128LKL-017
元件分类: SRAM
英文描述: 128K X 32 MULTI DEVICE SRAM MODULE, 17 ns, PSMA64
封装: PLASTIC, SIMM-64
文件页数: 3/7页
文件大小: 167K
代理商: SYS32128LKL-017
SYS32128ZK/LK - 010/012/015/017
ISSUE 1.3 January 1999
3
Low V
CC Data Retention Characteristics - L Version Only
Parameter
Symbol
Test Condition
min
typ
max
Unit
V
CC for Data Retention
V
DR
CS>V
CC-0.2V
2.0
-
V
Data Retention Current
I
CCDR1
V
CC=2.0V,CS>1.8V,TOP=TA
--
3
mA
I
CCDR2
V
CC=3.0V,CS>2.8V,TOP=TAI
-
3.5
mA
Chip Deselect to
Data Retention Time
t
CDR
See Retention Waveform
0-
-
ns
Operation Recovery
Time
t
R
See Retention Waveform
t
RC
(1)
--
ns
Notes:
(1)
t
RC=Read Cycle Time
Operation Truth Table
CS
OE
WE
DATA PINS
SUPPLY CURRENT
MODE
H
X
High Impedance
ISB1 , ISB2
Standby
L
H
Data Out
ICC
Read
L
X
L
Data In
ICC
Write
L
H
High Impedance
ICC
Output Disabled
Notes : H = VIH : L =VIL : X = VIH or VIL
AC Test Conditions
Output Load
* Input pulse levels: 0 V to 3.0V
* Input rise and fall times: 5ns
* Input and Output timing reference levels: 1.5V
* Output load: see diagram
* V
CC = 5V± 10%
I/O P IN
166 O H M S
1.76 V
30pF
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PDF描述
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