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参数资料
| 型号： | WS57C45-45TMB |
| 元件分类： | PROM |
| 英文描述： | 2K X 8 UVPROM, 45 ns, CDIP24 |
| 封装： | CERDIP-24 |
| 文件页数： | 3/9页 |
| 文件大小： | 72K |
| 代理商： | WS57C45-45TMB |
2-23
WS57C45
A10
OE/OES
O7
O6
O5
O4
O3
O2
O1
O0
INIT
ROW
DECODER
1 OF 64
A9
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
CP
64 X 256
PROGRAMMABLE
ARRAY
8 X 1 OF 32
MULTIPLEXER
8-BIT
EDGE-
TRIGGERED
REGISTER
PROGRAMMABLE
INITIALIZE
WORD
PROGRAMMABLE
MULTIPLEXER
COLUMN
DECODER
1 OF 32
D
C
Q
CP
OES
O0-O7
A0-A10
tHA
tPWC
tPWI
tPWC
tSOE
S
tSOE
S
tSOE
S
tHOE
S
tHOE
S
tHOE
S
tHA
tSA
tCO
tDI
tRI
tHZC
tLZC
tCO
tHZOE
tLZOE
INIT
OE
CP
30 pF
(INCLUDING SCOPE
AND JIG
CAPACITANCE)
98
2.01 V
D.U.T.
3.0
0.0
1.5
TEST
POINTS
TEST LOAD (High Impedance Test Systems)
A.C. TESTING INPUT/OUTPUT WAVEFORM
AC READ TIMING DIAGRAM
BLOCK DIAGRAM
A.C. testing inputs are driven at 3.0 V for a logic “1” and 0.0 V
for a logic “0.” Timing measurements are made at 1.5 V for
input and output transitions in both directions.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| WS57C49B-45FMB | 8K X 8 UVPROM, 45 ns, CDFP24 |
| WS57C49B-55TMB | 8K X 8 UVPROM, 55 ns, CDIP24 |
| WS57C49B-70T | 8K X 8 UVPROM, 70 ns, CDIP24 |
| WS57C49B-70D | 8K X 8 UVPROM, 70 ns, CDIP24 |
| WS57C49C-55J | 8K X 8 OTPROM, 55 ns, PQCC28 |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| WS57C49B-35J | 制造商:WSI 功能描述: |
| WS57C49B-35T | 制造商:WSI 功能描述: |
| WS57C49B-45D | 制造商:WSI 功能描述:EPROM, 8K x 8, 24 Pin, Ceramic, DIP |
| WS57C49B-70D | 制造商:WSI 功能描述: |
| WS57C49C | 制造商:STMICROELECTRONICS 制造商全称:STMicroelectronics 功能描述:HIGH SPEED 8K x 8 CMOS PROM/RPROM |
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