参数资料
| 型号： | XC2S50E-6TQ144C |
| 厂商： | Xilinx Inc |
| 文件页数： | 40/108页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1.8V 384 CLB'S 144-TQFP |
| 产品变化通告： | FPGA Family Discontinuation 18/Apr/2011 |
| 标准包装： | 60 |
| 系列： | Spartan®-IIE |
| LAB/CLB数： | 384 |
| 逻辑元件/单元数： | 1728 |
| RAM 位总计： | 32768 |
| 输入/输出数： | 102 |
| 门数： | 50000 |
| 电源电压： | 1.71 V ~ 1.89 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 144-LQFP |
| 供应商设备封装： | 144-TQFP（20x20） |
| 其它名称： | 122-1204 |
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DS077-3 (v3.0) August 9, 2013
37
Product Specification
Spartan-IIE FPGA Family: DC and Switching Characteristics
R
— OBSOLETE — OBSOLETE — OBSOLETE — OBSOLETE —
IOB Input Switching Characteristics(1)
Input delays associated with the pad are specified for LVTTL levels. For other standards, adjust the delays with the values
Symbol
Description
Device
Speed Grade
Units
-7
-6
Min
Max
Min
Max
Propagation Delays
TIOPI
Pad to I output, no delay
All
0.4
0.8
0.4
0.8
ns
TIOPID
Pad to I output, with delay
All
0.5
1.0
0.5
1.0
ns
TIOPLI
Pad to output IQ via transparent latch,
no delay
All
0.7
1.5
0.7
1.6
ns
TIOPLID
Pad to output IQ via transparent latch,
with delay
XC2S50E
1.3
3.0
1.3
3.1
ns
XC2S100E
1.3
3.0
1.3
3.1
ns
XC2S150E
1.3
3.2
1.3
3.3
ns
XC2S200E
1.3
3.2
1.3
3.3
ns
XC2S300E
1.3
3.2
1.3
3.3
ns
XC2S400E
1.4
3.2
1.4
3.4
ns
XC2S600E
1.5
3.5
1.5
3.7
ns
Sequential Delays
TIOCKIQ
Clock CLK to output IQ
All
0.1
0.7
0.1
0.7
ns
Setup/Hold Times with Respect to Clock CLK
TIOPICK / TIOICKP
Pad, no delay
All
1.4 / 0
-
1.5 / 0
-
ns
TIOPICKD / TIOICKPD Pad, with delay
XC2S50E
2.9 / 0
-
2.9 / 0
-
ns
XC2S100E
2.9 / 0
-
2.9 / 0
-
ns
XC2S150E
3.1 / 0
-
3.1 / 0
-
ns
XC2S200E
3.1 / 0
-
3.1 / 0
-
ns
XC2S300E
3.1 / 0
-
3.1 / 0
-
ns
XC2S400E
3.2 / 0
-
3.2 / 0
-
ns
XC2S600E
3.5 / 0
-
3.5 / 0
-
ns
TIOICECK / TIOCKICE ICE input
All
0.7 / 0.01
-
0.7 / 0.01
-
ns
Set/Reset Delays
TIOSRCKI
SR input (IFF, synchronous)
All
0.9
-
1.0
-
ns
TIOSRIQ
SR input to IQ (asynchronous)
All
0.5
1.2
0.5
1.4
ns
TGSRQ
GSR to output IQ
All
3.8
8.5
3.8
9.7
ns
Notes:
1.
Input timing for LVTTL is measured at 1.4V. For other I/O standards, see the table Delay Measurement Methodology, page 41.
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