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参数资料
| 型号： | A1280A-1CQ172E |
| 元件分类： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 1232 CLBS, 8000 GATES, 60 MHz, CQFP172 |
| 封装： | CAVITY-UP, CERAMIC, QFP-172 |
| 文件页数： | 53/98页 |
| 文件大小： | 2005K |
| 代理商： | A1280A-1CQ172E |
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Hi R e l F P GA s
TD I
Tes t D ata In
Serial data input for JTAG instructions and data. Data is
shifted in on the rising edge of TCLK. This pin functions as an
I/O when the JTAG fuse is not programmed. JTAG pins are
only available in the 3200DX device.
TD O
Tes t D ata Out
Serial data output for JTAG instructions and test data. This pin
functions as an I/O when the JTAG fuse is not programmed.
JTAG pins are only available in the 3200DX device.
TM S
Tes t Mo de Select
Serial data input for JTAG test mode. Data is shifted in on the
rising edge of TCLK. This pin functions as an I/O when the
JTAG fuse is not programmed. JTAG pins are only available in
the 3200DX device.
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PDF描述 |
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参数描述 |
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