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参数资料
| 型号： | AD5252BRU1-RL7 |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 26/28页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DCP DUAL 1K 256POS 14TSSOP TR |
| 标准包装： | 1,000 |
| 接片： | 256 |
| 电阻（欧姆）： | 1k |
| 电路数： | 2 |
| 温度系数： | 标准值 650 ppm/°C |
| 存储器类型： | 非易失 |
| 接口： | I²C（设备位址） |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 5.5 V，±2.25 V ~ 2.75 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 14-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 14-TSSOP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
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Data Sheet
AD5251/AD5252
Rev. D | Page 7 of 28
INTERFACE TIMING CHARACTERISTICS
All input control voltages are specified with tR = tF = 2.5 ns (10% to 90% of 3 V) and timed from a voltage level of 1.5 V. Switching
characteristics are measured using both VDD = 3 V and 5 V.
Table 3. Interface Timing and EEMEM Reliability Characteristics (All Parts)1
Parameter
Symbol
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
INTERFACE TIMING
SCL Clock Frequency
f
SCL
400
kHz
t
BUF Bus-Free Time Between Stop and Start
t
1
1.3
s
t
HD;STA Hold Time (Repeated Start)
t
2
After this period, the first clock pulse is
generated.
0.6
s
t
LOW Low Period of SCL Clock
t
3
1.3
s
t
HIGH High Period of SCL Clock
t
4
0.6
s
t
SU;STA Set-up Time for Start Condition
t
5
0.6
s
t
HD;DAT Data Hold Time
t
6
0
0.9
s
t
SU;DAT Data Set-up Time
t
7
100
ns
t
F Fall Time of Both SDA and SCL Signals
t
8
300
ns
t
R Rise Time of Both SDA and SCL Signals
t
9
300
ns
t
SU;STO Set-up Time for Stop Condition
t
10
0.6
s
EEMEM Data Storing Time
t
EEMEM_STORE
26
ms
EEMEM Data Restoring Time at Power-On2
t
EEMEM_RESTORE1
V
DD rise time dependent. Measure
without decoupling capacitors at V
DD
and V
SS.
300
s
EEMEM Data Restoring Time upon Restore
Command or Reset Operation2
t
EEMEM_RESTORE2
V
DD = 5 V.
300
s
EEMEM Data Rewritable Time (Delay Time
After Power-On or Reset Before EEMEM
Can Be Written)
t
EEMEM_REWRITE
540
s
FLASH/EE MEMORY RELIABILITY
Endurance3
100
k cycles
Data Retention4
100
Years
1 Guaranteed by design; not subject to production test. See Figure 23 for location of measured values.
2 During power-up, all outputs are preset to midscale before restoring the EEMEM contents. RDAC0 has the shortest EEMEM data restoring time, whereas RDAC3 has the longest.
3 Endurance is qualified to 100,000 cycles per JEDEC Standard 22, Method A117, and measured at 40°C, +25°C, and +105°C; typical endurance at +25°C is 700,000
cycles.
4 Retention lifetime equivalent at junction temperature T
J = 55°C per JEDEC Std. 22, Method A117. Retention lifetime based on an activation energy of 0.6 eV derates
with junction temperature in Flash/EE memory.
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