参数资料
型号: AT32AP7002-CTUR
厂商: Atmel
文件页数: 43/83页
文件大小: 0K
描述: IC MCU AVR32 196-CBGA
产品培训模块: MCU Product Line Introduction
标准包装: 1
系列: AVR®32 AP7
核心处理器: AVR
芯体尺寸: 32-位
速度: 150MHz
连通性: EBI/EMI,I²C,MMC,PS2,SPI,SSC,UART/USART,USB
外围设备: AC'97,DMA,I²S,LCD,POR,PWM,WDT
输入/输出数: 85
程序存储器类型: ROMless
RAM 容量: 32K x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd): 1.65 V ~ 1.95 V
数据转换器: D/A 2x16b
振荡器型: 内部
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 196-TFBGA,CSBGA
包装: 标准包装
其它名称: AT32AP7002-CTURDKR
4
32054F–AVR32–09/09
AT32AP7002
2.
Signals Description
The following table gives details on the signal name classified by peripheral. The pinout multi-
plexing of these signals is given in the Peripheral Muxing table in the Peripherals chapter.
Table 2-1.
Signal Description List
Signal Name
Function
Type
Active
Level
Comments
Power
AVDDPLL
PLL Power Supply
Power
1.65 to 1.95 V
AVDDUSB
USB Power Supply
Power
1.65 to 1.95 V
AVDDOSC
Oscillator Power Supply
Power
1.65 to 1.95 V
VDDCORE
Core Power Supply
Power
1.65 to 1.95 V
VDDIO
I/O Power Supply
Power
3.0 to 3.6V
AGNDPLL
PLL Ground
Ground
AGNDUSB
USB Ground
Ground
AGNDOSC
Oscillator Ground
Ground
GND
Ground
Clocks, Oscillators, and PLL’s
XIN0, XIN1, XIN32
Crystal 0, 1, 32 Input
Analog
XOUT0, XOUT1,
XOUT32
Crystal 0, 1, 32 Output
Analog
PLL0, PLL1
PLL 0,1 Filter Pin
Analog
JTAG
TCK
Test Clock
Input
TDI
Test Data In
Input
TDO
Test Data Out
Output
TMS
Test Mode Select
Input
TRST_N
Test Reset
Input
Low
Auxiliary Port - AUX
MCKO
Trace Data Output Clock
Output
MDO0 - MDO5
Trace Data Output
Output
MSEO0 - MSEO1
Trace Frame Control
Output
EVTI_N
Event In
Input
Low
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