参数资料
| 型号： | ISL6323ACRZ |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 11/36页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC PWM CTRLR SYNC BUCK DL 48QFN |
| 标准包装： | 43 |
| 应用： | 控制器，AMD SVI |
| 输入电压： | 5 V ~ 12 V |
| 输出数： | 2 |
| 输出电压： | 最高 2V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 48-VFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 48-QFN（7x7） |
| 包装： | 管件 |
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ISL6323A
Electrical Specifications
Recommended Operating Conditions, Unless Otherwise Specified. (Continued)
MIN
MAX
PARAMETER
TEST CONDITIONS
(Note 3)
TYP
(Note 3)
UNITS
Power Good Hysteresis
OVERVOLTAGE PROTECTION
50
mV
OVP Trip Level
OVP Lower Gate Release Threshold
1.73
350
1.80
400
1.84
V
mV
UGATE Rise Time
t RUGATE; V PVCC = 12V, 3nF Load, 10% to
26
ns
90%
LGATE Rise Time
t RLGATE; V PVCC = 12V, 3nF Load, 10% to
18
ns
90%
UGATE Fall Time
t FUGATE; V PVCC = 12V, 3nF Load, 90% to
18
ns
10%
LGATE Fall Time
UGATE Turn-On Non-overlap
t FLGATE; V PVCC = 12V, 3nF Load, 90% to 10%
t PDHUGATE ; V PVCC = 12V, 3nF Load,
12
10
ns
ns
Adaptive
LGATE Turn-On Non-overlap
t PDHLGATE ; V PVCC = 12V, 3nF Load, Adaptive
10
ns
GATE DRIVE RESISTANCE (Note 4)
Upper Drive Source Resistance
Upper Drive Sink Resistance
Lower Drive Source Resistance
Lower Drive Sink Resistance
V PVCC = 12V, 15mA Source Current
V PVCC = 12V, 15mA Sink Current
V PVCC = 12V, 15mA Source Current
V PVCC = 12V, 15mA Sink Current
2.0
1.65
1.25
0.80
Ω
Ω
Ω
Ω
MODE SELECTION
VID1/SEL Input Low
VID1/SEL Input High
EN taken from LO to HI, VDDIO = 1.5V
EN taken from LO to HI, VDDIO = 1.5V
1.00
0.6
V
V
PVI INTERFACE
VIDx Pull-down
VDDIO = 1.5V
30
40
μA
VIDx Input Low
VIDx Input High
VDDIO = 1.5V
VDDIO = 1.5V
1.00
0.6
V
V
SVI INTERFACE
SVC, SVD Input HIGH (VIH)
SVC, SVD Input LOW (VIL)
0.95
0.4
V
V
Schmitt Trigger Input Hysteresis
SVD Low Level Output Voltage
Maximum SVC, SVD Leakage (Note 4)
3mA Sink Current
0.14
0.35
±5
0.45
0.285
V
V
μA
NOTES:
3. Parameters with MIN and/or MAX limits are 100% tested at +25°C, unless otherwise specified. Temperature limits established by characterization
and are not production tested.
4. Limits established by characterization and are not production tested
11
FN6878.1
May 12, 2010
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