参数资料
型号: C8051F350-TB
厂商: Silicon Laboratories Inc
文件页数: 174/234页
文件大小: 0K
描述: PROTOTYPINGBOARDWITH C8051F350
标准包装: 1
类型: MCU
适用于相关产品: C8051F350
所含物品:
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页当前第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页第194页第195页第196页第197页第198页第199页第200页第201页第202页第203页第204页第205页第206页第207页第208页第209页第210页第211页第212页第213页第214页第215页第216页第217页第218页第219页第220页第221页第222页第223页第224页第225页第226页第227页第228页第229页第230页第231页第232页第233页第234页
C8051F350/1/2/3
44
Rev. 1.1
5.2.
Calibrating the ADC
ADC0 can be calibrated in-system for both gain and offset, using internal or system calibration modes. To
ensure calibration accuracy, offset calibrations must be performed prior to gain calibrations. It is not neces-
sary to perform both internal and system calibrations, as a system calibration will also compensate for any
internal error sources.
Offset calibration is a single-point measurement that sets which input voltage produces a zero at the ADC
output. When performing an offset calibration, any deviation from zero in the measurement is stored in the
offset register. The offset value is subtracted from all conversions as they take place.
Gain calibration is a two-point measurement that sets the slope of the ADC transfer function. When per-
formed, a gain calibration takes only a single measurement, which is assumed to be the desired full-scale
value in the ADC transfer function. The offset calibration value is used as the other point in the gain calibra-
tion measurement, so that a gain factor can be calculated. After offset correction, conversions are multi-
plied by the gain factor.
Calibrations are initiated by writing the ADC System Mode bits (AD0SM) to one of the calibration options.
During a calibration, the AD0CBSY bit is set to ‘1’. Upon completion of a calibration the the AD0SM bits will
return to Idle mode, the AD0CBSY bit will be cleared to ‘0’, the AD0CALC bit will be set to ‘1’, and an ADC
interrupt will be generated. Calibration results are also written to the appropriate calibration registers when
the calibration is complete.
5.2.1. Internal Calibration
Internal calibration is performed without requiring a specific voltage on the ADC input pins. Internal calibra-
tions can be performed in three different ways: offset only, gain only, or full (offset and gain). A full internal
calibration consists of an internal offset calibration followed by an internal gain calibration. If offset and gain
calibrations are performed independently, offset calibration must be performed prior to gain calibration.
During an internal offset calibration, the ADC inputs are connected internally to AGND. For an internal gain
calibration, the ADC inputs are connected internally to a full-scale Voltage that is equal to the selected Volt-
age reference divided by the PGA gain.
5.2.2. System Calibration
System calibration is performed using voltages which are applied to the ADC inputs. There are two system
calibration options: offset calibration and gain calibration. For accurate calibration results, offset calibration
must be performed prior to gain calibration. During a system offset calibration, the ADC inputs should be
connected to a “zero” value. During a system gain calibration, the ADC inputs should be connected to the
positive full-scale value for the current PGA gain setting.
5.2.3. Calibration Coefficient Storage
The calibration results for offset and gain are each 24-bits long. The calibration results are stored in SFRs
that are both readable and writeable from software. This enables factory calibrations, as well as manual
modification of the offset and gain parameters. The offset calibration results are stored as a two’s comple-
ment, 24-bit number in the ADC0COH, ADC0COM, and ADC0COL registers. The mapping of the offset
register is shown in Figure 5.3. The gain calibration results are stored as a fixed-point, 24-bit number in the
ADC0CGH, ADC0CGM, and ADC0CGL registers. The mapping of the gain register is shown in Figure 5.4.
相关PDF资料
PDF描述
GEM25DTKT-S288 CONN EDGECARD 50POS .156 EXTEND
RMC07DRXI CONN EDGECARD 14POS DIP .100 SLD
VI-BT0-EY CONVERTER MOD DC/DC 5V 50W
SDR-40-49 SCOTCH CODE REFILL # 40-49
EBC17DRAI CONN EDGECARD 34POS R/A .100 SLD
相关代理商/技术参数
参数描述
C8051F350-TB-K 功能描述:PROTOTYPINGBOARDWITH C8051F350 制造商:silicon labs 系列:- 零件状态:在售 板类型:评估平台 类型:MCU 8-位 核心处理器:8051 操作系统:- 平台:- 配套使用产品/相关产品:C8051F35x 安装类型:固定 内容:板 标准包装:1
C8051F351 功能描述:8位微控制器 -MCU 24-bit ADC RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT
C8051F351GM 制造商:Silicon Laboratories Inc 功能描述:
C8051F351-GM 功能描述:8位微控制器 -MCU 24-bit ADC RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT
C8051F351-GMR 功能描述:8位微控制器 -MCU 24-bit ADC RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT