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参数资料
| 型号： | CAT28LV65WI25 |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 4/15页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC EEPROM 64KBIT 250NS 28SOIC |
| 产品变化通告： | Product Discontinuation 30/Sept/2011 |
| 标准包装： | 27 |
| 格式 - 存储器： | EEPROMs - 并行 |
| 存储器类型： | EEPROM |
| 存储容量： | 64K (8K x 8) |
| 速度： | 250ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 3 V ~ 3.6 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 28-SOIC |
| 包装： | 管件 |
| 其它名称： | 28LV65WI-25 CAT28LV65WI-25 CAT28LV65WI-25-ND |
CAT28LV65
Table 4. CAPACITANCE (T A = 25 ° C, f = 1.0 MHz)
Symbol
C I/O (Note 5)
C IN (Note 5)
Test
Input/Output Capacitance
Input Capacitance
Max
10
6
Conditions
V I/O = 0 V
V IN = 0 V
Units
pF
pF
5. This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.
Table 5. D.C. OPERATING CHARACTERISTICS (V CC = 3.0 V to 3.6 V, unless otherwise specified.)
Limits
Symbol
I CC
I SBC (Note 6)
I LI
I LO
V IH (Note 6)
V IL
Parameter
V CC Current (Operating, TTL)
V CC Current (Standby, CMOS)
Input Leakage Current
Output Leakage Current
High Level Input Voltage
Low Level Input Voltage
Test Conditions
CE = OE = V IL ,
f = 1/t RC min, All I/O’s Open
CE = V IHC , All I/O’s Open
V IN = GND to V CC
V OUT = GND to V CC ,
CE = V IH
Min
? 1
? 5
2
? 0.3
Typ
Max
8
100
1
5
V CC + 0.3
0.6
Units
mA
m A
m A
m A
V
V
V OH
V OL
V WI
High Level Output Voltage
Low Level Output Voltage
Write Inhibit Voltage
I OH = ? 100 m A
I OL = 1.0 mA
2
2
0.3
V
V
V
6. V IHC = V CC ? 0.3 V to V CC + 0.3 V.
Table 6. A.C. CHARACTERISTICS, READ CYCLE (V CC = 3.0 V to 3.6 V, unless otherwise specified.)
28LV65 ? 15
28LV65 ? 20
28LV65 ? 25
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Units
t RC
t CE
t AA
t OE
t LZ (Note 7)
t OLZ (Note 7)
t HZ (Notes 7, 8)
t OHZ (Notes 7, 8)
t OH (Note 7)
Read Cycle Time
CE Access Time
Address Access Time
OE Access Time
CE Low to Active Output
OE Low to Active Output
CE High to High ? Z Output
OE High to High ? Z Output
Output Hold from Address
Change
150
0
0
0
150
150
70
50
50
200
0
0
0
200
200
80
50
50
250
0
0
0
250
250
100
55
55
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
7. This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.
8. Output floating (High ? Z) is defined as the state when the external data line is no longer driven by the output buffer.
http://onsemi.com
4
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参数描述 |
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