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参数资料
| 型号： | CME8000-DDTB |
| 厂商： | C-Max |
| 文件页数： | 14/22页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC RECEIVER RC BICMOS DIE |
| 标准包装： | 1,000 |
| 功能： | 接收器 |
C-MAX Time Solutions
Data Sheet
CME8000
Test modes
In the analog test mode, which could be selected by SS1 and SS2 (see table “Logical
function of SS1, SS2”), Pin TEST is connected internally to the output of the analog part.
The signal TCO is now available for testing, and is internally still connected to the logic
part.
In the digital Test mode the pin TEST is an input for the logic part. With a digital pattern the
logic part can be tested. The internal connection TCO is open in the digital test mode.
13
Application Circuitry for 1 antenna solution (77.5 kHz)
77500Hz
3V
10
47μF
GNDL
QIN
QLOUT
QMOUT
QHOUT
VCC
VL
PON
GNDL
ANT1
crystal switch
Bias
CLKSEL
MCU
Transformer
IN1
IN2
rect.-
AGC
TCO
Logic
I/O
Unit
CLOCK
DR
DATA
DT
BSI1
EPSON
S1C636C4
ANT2
AGC
contr. unit
BSI2
GND
DEM
PK
SS1
SS2
HLD
Figure 13.
100nF
3.3μF
GND GND
GNDL
14 Application Circuitry for multi frequency antenna use (3 frequencies: 40kHz, 60kHz,
77.5kHz)
40000Hz 60000Hz
77500Hz
3V
10
47μF
GNDL
QIN
QLOUT
QMOUT
QHOUT
VCC
VL
PON
GNDL
ANT1
crystal switch
Bias
CLKSEL
MCU
IN1
IN2
rect.-
AGC
TCO
Logic
I/O
Unit
CLOCK
DR
DATA
DT
BSI1
EPSON
S1C636C4
ANT2
AGC
contr. unit
BSI2
GND
DEM
PK
SS1
SS2
HLD
100nF
3.3μF
GND
GND
GNDL
Figure 14.
SPEC No.
CME8000
Revision
B.15
State
09.03.07
C-MAX printed
03.05.2007
Version
English
Page
14 of 22
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PDF描述 |
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