- 您现在的位置：买卖IC网 > PDF目录97928 > EPF10K30EFC256-2 Field Programmable Gate Array (FPGA) PDF资料下载
参数资料
| 型号： | EPF10K30EFC256-2 |
| 英文描述： | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| 中文描述： | 现场可编程门阵列（FPGA） |
| 文件页数： | 63/120页 |
| 文件大小： | 1901K |
| 代理商： | EPF10K30EFC256-2 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页当前第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页
Altera Corporation
47
FLEX 10KE Embedded Programmable Logic Family Data Sheet
Generic Testing
Each FLEX 10KE device is functionally tested. Complete testing of each
configurable static random access memory (SRAM) bit and all logic
functionality ensures 100% yield. AC test measurements for FLEX 10KE
devices are made under conditions equivalent to those shown in
Figure 21. Multiple test patterns can be used to configure devices during
all stages of the production flow.
Figure 21. FLEX 10KE AC Test Conditions
Operating
Conditions
recommended operating conditions, DC operating conditions, and
capacitance for 2.5-V FLEX 10KE devices.
Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
Device
Output
703
8.06 k
[481
]
[481
]
VCCIO
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions of
multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests
must not be performed under AC
conditions. Large-amplitude, fast-
ground-current transients normally
occur as the device outputs discharge
the load capacitances. When these
transients ow through the parasitic
inductance between the device ground
pin and the test system ground,
signicant reductions in observable
noise immunity can result. Numbers in
brackets are for 2.5-V devices or outputs.
Numbers without brackets are for 3.3-V
Table 19. FLEX 10KE 2.5-V Device Absolute Maximum Ratings
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
VCCINT
Supply voltage
With respect to ground (2)
–0.5
3.6
V
VCCIO
–0.5
4.6
V
VI
DC input voltage
–2.0
5.75
V
IOUT
DC output current, per pin
–25
25
mA
TSTG
Storage temperature
No bias
–65
150
° C
TAMB
Ambient temperature
Under bias
–65
135
° C
TJ
Junction temperature
PQFP, TQFP, BGA and FineLine BGA
packages, under bias
135
° C
Ceramic PGA packages, under bias
150
° C
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| EPF10K30EFC256-2DX | ASIC |
| EPF10K30EFC256-2X | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EPF10K30EFC256-3 | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
| EPF10K30EFC256-3DX | ASIC |
| EPF10K30EFC484-1 | Field Programmable Gate Array (FPGA) |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| EPF10K30EFC256-2DX | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:ASIC |
| EPF10K30EFC256-2N | 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 176 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256 |
| EPF10K30EFC256-2X | 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 176 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256 |
| EPF10K30EFC256-3 | 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 FPGA - Flex 10K 216 LABs 176 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256 |
| EPF10K30EFC256-3DX | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:ASIC |
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。