参数资料
型号: EVAL-AD5570EBZ
厂商: Analog Devices Inc
文件页数: 3/24页
文件大小: 0K
描述: BOARD EVALUATION FOR AD5570
标准包装: 1
DAC 的数量: 1
位数: 16
采样率(每秒): 83k
数据接口: DSP,MICROWIRE?,QSPI?,串行,SPI?
设置时间: 12µs
DAC 型: 电压
工作温度: -40°C ~ 85°C
已供物品:
已用 IC / 零件: AD5570
AD5570
Rev. C | Page 11 of 24
TYPICAL PERFORMANCE CHARACTERISTICS
CODE
IN
L
(
L
S
B
)
0
–1.0
–0.8
–0.6
–0.4
–0.2
0
0.2
1.0
0.6
0.4
0.8
50k
40k
30k
20k
10k
60k
TA = 25°C
VDD/VSS = ±15V
REFIN = +5V
03
76
0-
0
06
Figure 6. Integral Nonlinearity vs. Code, VDD/VSS = ±15 V
CODE
DNL
(
L
S
B)
0
–1.0
–0.8
–0.6
–0.4
–0.2
0
0.2
1.0
0.6
0.4
0.8
50k
40k
30k
20k
10k
60k
TA = 25°C
VDD/VSS = ±15V
REFIN = +5V
03
76
0-
0
07
Figure 7. Differential Nonlinearity vs. Code, VDD/VSS = ±15 V
CODE
IN
L
(
L
S
B
)
0
–1.0
–0.8
–0.6
–0.4
–0.2
0
0.2
1.0
0.6
0.4
0.8
50k
40k
30k
20k
10k
60k
TA = 25°C
VDD/VSS = ±12V
REFIN = +5V
03
76
0-
0
08
Figure 8. Integral Nonlinearity vs. Code, VDD/VSS = ±12 V
CODE
DNL
(
L
S
B)
0
–1.0
–0.8
–0.6
–0.4
–0.2
0
0.2
1.0
0.6
0.4
0.8
50k
40k
30k
20k
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60k
TA = 25°C
VDD/VSS = ±12V
REFIN = +5V
03
76
0-
0
09
Figure 9. Differential Nonlinearity vs. Code, VDD/VSS = ±12 V
TEMPERATURE (°C)
IN
L
(
L
S
B
)
–40
–1.0
–0.8
–0.6
–0.4
–0.2
0
0.2
1.0
0.8
0.4
0.6
100
80
60
40
20
0
–20
120
VDD/VSS = ±15V
REFIN = +5V
03
76
0-
0
18
Figure 10. Integral Nonlinearity vs. Temperature, VDD/VSS = ±15 V
TEMPERATURE (°C)
DNL
(
L
S
B)
–40
–1.0
–0.8
–0.6
–0.4
–0.2
0
0.2
1.0
0.8
0.4
0.6
100
80
60
40
20
0
–20
120
VDD/VSS = ±15V
REFIN = +5V
03
76
0-
0
19
Figure 11. Differential Nonlinearity vs. Temperature, VDD/VSS = ±15 V
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PDF描述
EVAL-AD5379EBZ BOARD EVALUATION FOR AD5379
EVAL-AD5452EBZ BOARD EVAL FOR AD5452
EBA22DRMH CONN EDGECARD 44POS .125 SQ WW
ACM03DRXN CONN EDGECARD 6POS DIP .156 SLD
ESA06DTKT-S288 CONN EDGECARD 12POS .125 EXTEND
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参数描述
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