参数资料
型号: FDD2572
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 6/11页
文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 150V 29A D-PAK
产品培训模块: High Voltage Switches for Power Processing
产品目录绘图: DPAK, TO-252(AA)
标准包装: 1
系列: PowerTrench®
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 150V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 29A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 54 毫欧 @ 9A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 4V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 34nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 1770pF @ 25V
功率 - 最大: 135W
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: TO-252-3,DPak(2 引线+接片),SC-63
供应商设备封装: D-Pak
包装: 标准包装
产品目录页面: 1606 (CN2011-ZH PDF)
其它名称: FDD2572DKR
Test Circuits and Waveforms
V DS
L
I AS
t P
BV DSS
V DS
VARY t P TO OBTAIN
REQUIRED PEAK I AS
V GS
R G
DUT
+
-
V DD
V DD
0V
t P
I AS
0
0.01 ?
t AV
Figure 15. Unclamped Energy Test Circuit
Figure 16. Unclamped Energy Waveforms
V DS
V DD
Q g(TOT)
V DS
L
V GS = 10V
V GS
+
DUT
-
V DD
V GS
V GS = 2V
I g(REF)
0
Q g(TH)
I g(REF)
0
Q gs2
Q gs
Q gd
Figure 17. Gate Charge Test Circuit
Figure 18. Gate Charge Waveforms
V DS
R L
V DS
t ON
t d(ON)
90%
t r
t OFF
t d(OFF)
t f
90%
V GS
+
-
V DD
0
10%
10%
R GS
DUT
90%
V GS
50%
PULSE WIDTH
50%
V GS
Figure 19. Switching Time Test Circuit
?2002 Fairchild Semiconductor Corporation
0
10%
Figure 20. Switching Time Waveforms
FDD2572 / FDU2572 Rev. B
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