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参数资料
| 型号： | FQB34P10TM_F085 |
| 厂商： | Fairchild Semiconductor |
| 文件页数： | 3/8页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | MOSFET P-CH 100V 33.5A D2PAK |
| 产品目录绘图： | D2PAK, TO-263AB Pkg |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | QFET™ |
| FET 型： | MOSFET P 通道，金属氧化物 |
| FET 特点： | 标准 |
| 漏极至源极电压(Vdss)： | 100V |
| 电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C： | 33.5A |
| 开态Rds（最大）@ Id, Vgs @ 25° C： | 60 毫欧 @ 16.75A，10V |
| Id 时的 Vgs(th)（最大）： | 4V @ 250µA |
| 闸电荷(Qg) @ Vgs： | 110nC @ 10V |
| 输入电容 (Ciss) @ Vds： | 2910pF @ 25V |
| 功率 - 最大： | 3.75W |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | TO-263-3，D²Pak（2 引线+接片），TO-263AB |
| 供应商设备封装： | D²PAK |
| 包装： | 标准包装 |
| 其它名称： | FQB34P10TM_F085DKR |
Typical Characteristics
10
10
2
Top :
V GS
-15.0 V
-10.0 V
-8.0 V
2
-7.0 V
-6.5 V
10
1
-5.5 V
-5.0 V
10
10
10
10
0
-1
Bottom : -4.5 V
※ Note :
1. 250μ s Pulse Test
2. T C = 25 ℃
1
0
175 ℃
25 ℃
-55 ℃
※ Notes :
1. V DS = -40V
2. 250μ s Pulse Test
10
10
10
10
10
-2
-1
0
1
-1
2
4
6
8
10
10
0.35
-V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 1. On-Region Characteristics
2
-V GS , Gate-Source Voltage [V]
Figure 2. Transfer Characteristics
10
0.30
V GS = - 10V
0.25
1
0.20
V GS = - 20V
0.15
10
0.10
0
0.05
※ Note : T J = 25 ℃
175 ℃
25 ℃
※ Notes :
1. V GS = 0V
2. 250μs Pulse Test
10
0.00
0
25
50
75
100
125
150
175
200
-1
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
-I D , Drain Current [A]
Figure 3. On-Resistance Variation vs.
Drain Current and Gate Voltage
-V SD , Source-Drain Voltage [V]
Figure 4. Body Diode Forward Voltage
Variation vs. Source Current
and Temperature
6500
6000
5500
5000
4500
4000
3500
C oss
C iss
C iss = C gs + C gd (C ds = shorted)
C oss = C ds + C gd
C rss = C gd
※ Notes :
1. V GS = 0 V
2. f = 1 MHz
12
10
8
V DS = -20V
V DS = -50V
V DS = -80V
3000
2500
2000
1500
1000
500
C rss
6
4
2
※ Note : I D = -33.5 A
10
10
10
0
-1
0
1
0
0
20
40
60
80
100
V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 5. Capacitance Characteristics
Q G , Total Gate Charge [nC]
Figure 6. Gate Charge Characteristics
F QB34P10TM _F085 Rev. C1
3
www.fairchildsemi.com
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PDF描述 |
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参数描述 |
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