参数资料
型号: FQI34P10TU
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 3/8页
文件大小: 0K
描述: MOSFET P-CH 100V 33.5A I2PAK
标准包装: 50
系列: QFET™
FET 型: MOSFET P 通道,金属氧化物
FET 特点: 标准
漏极至源极电压(Vdss): 100V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 33.5A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 60 毫欧 @ 16.75A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 4V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 110nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 2910pF @ 25V
功率 - 最大: 3.75W
安装类型: 通孔
封装/外壳: TO-262-3,长引线,I²Pak,TO-262AA
供应商设备封装: I2PAK
包装: 管件
Typical Characteristics
10
10
2
Top :
V GS
-15.0 V
-10.0 V
-8.0 V
2
-7.0 V
-6.5 V
10
1
-5.5 V
-5.0 V
10
10
10
10
0
-1
Bottom : -4.5 V
※ Note :
1. 250 μ s Pulse Test
2. T C = 25 ℃
1
0
175 ℃
25 ℃
-55 ℃
※ Notes :
1. V DS = -40V
2. 250 μ s Pulse Test
10
10
10
10
10
-2
-1
0
1
-1
2
4
6
8
10
10
0.35
-V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 1. On-Region Characteristics
2
-V GS , Gate-Source Voltage [V]
Figure 2. Transfer Characteristics
10
0.30
V GS = - 10V
0.25
1
0.20
V GS = - 20V
0.15
10
0.10
0
175 ℃
25 ℃
※ Notes :
0.05
※ Note : T J = 25 ℃
1. V GS = 0V
2. 250 μ s Pulse Test
10
0.00
0
25
50
75
100
125
150
175
200
-1
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
-I D , Drain Current [A]
Figure 3. On-Resistance Variation vs.
Drain Current and Gate Voltage
-V SD , Source-Drain Voltage [V]
Figure 4. Body Diode Forward Voltage
Variation vs. Source Current
and Temperature
6500
6000
5500
5000
4500
4000
3500
C oss
C iss
C iss = C gs + C gd (C ds = shorted)
C oss = C ds + C gd
C rss = C gd
※ Notes :
1. V GS = 0 V
2. f = 1 MHz
12
10
8
V DS = -20V
V DS = -50V
V DS = -80V
3000
2500
2000
1500
1000
500
C rss
6
4
2
※ Note : I D = -33.5 A
10
10
10
0
-1
0
1
0
0
2 0
40
6 0
80
100
V DS , Drain-Source Voltage [V]
Figure 5. Capacitance Characteristics
Q G , Total Gate Charge [nC]
Figure 6. Gate Charge Characteristics
?200 0 Fairchild Semiconductor Corporation
FQB34P10 Rev. C 1
3
www.fairchildsemi.com
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