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参数资料
| 型号： | ICS81006AKLFT |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 15/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC VCXO TO 6 LVCMOS OUT 20VFQFPN |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | HiPerClockS™ |
| 类型： | 压控晶体振荡器（VCXO） |
| PLL： | 无 |
| 输入： | 晶体 |
| 输出： | LVCMOS，LVTTL |
| 电路数： | 1 |
| 比率 - 输入:输出： | 1:6 |
| 差分 - 输入:输出： | 无/无 |
| 频率 - 最大： | 31.25MHz |
| 除法器/乘法器： | 是/无 |
| 电源电压： | 1.6 V ~ 3.465 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-VFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 20-VFQFPN（4x4） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | 81006AKLFT |
IDT / ICS VCXO-TO-LVCMOS OUTPUTS
7
ICS81006AK REV. B OCTOBER 8, 2008
ICS81006
VCXO-TO-6 LVCMOS OUTPUTS
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION
SCOPE
Qx
LVCMOS
GND
3.3V CORE/2.5V OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
2.05V±5%
V
DDO
-1.25V±5%
V
DD
1.25V±5%
3.3V CORE/3.3V OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
SCOPE
Qx
LVCMOS
GND
1.65V±5%
-1.65V±5%
V
DD,
V
DDO
3.3V CORE/1.8V OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
2.5V CORE/2.5V OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
2.5 CORE/1.8V OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
RMS PHASE JITTER
SCOPE
Qx
LVCMOS
GND
2.4V±0.065V
V
DDO
-0.9V±0.1V
V
DD
0.9V±0.1V
SCOPE
Qx
LVCMOS
GND
1.25V±5%
-1.25V±5%
V
DD,
V
DDO
Phase Noise Mask
Offset Frequency
f
1
f
2
Phase Noise Plot
RMS Jitter = Area Under the Masked Phase Noise Plot
Noise
P
o
w
er
SCOPE
Qx
LVCMOS
GND
1.6V±0.025V
V
DDO
-0.9V±0.1V
V
DD
0.9V±0.1V
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