参数资料
型号: IDT70V26S35J8
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 6/17页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 256KBIT 35NS 84PLCC
标准包装: 200
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 256K(16K x 16)
速度: 35ns
接口: 并联
电源电压: 3 V ~ 3.6 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 84-LCC(J 形引线)
供应商设备封装: 84-PLCC(29.21x29.21)
包装: 带卷 (TR)
其它名称: 70V26S35J8
IDT70V26S/L
High-Speed 16K x 16 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics Over the Operating
Temperature and Supply Voltage Range (1) (V DD = 3.3V ± 0.3V)
70V26X25
Com'l
& Ind
70V26X35
Com'l Only
70V26X55
Com'l Only
Symbol
Parameter
Test Condition
Version
Typ. (2)
Max.
Typ. (2)
Max.
Typ. (2)
Max.
Unit
I CC
Dynamic Operating
Current
(Both Ports Active)
CE = V IL , Outputs Disabled
SEM = V IH
f = f MAX (3)
COM'L
IND
S
L
S
100
100
100
170
140
200
90
90
____
140
120
____
90
90
____
140
120
____
mA
mA
L
100
185
____
____
____
____
I SB1
Standby Current
(Both Ports - TTL
Level Inputs)
CE R = CE L = V IH
SEM R = SEM L = V IH
f = f MAX (3)
COM'L
IND
S
L
S
14
12
14
30
24
60
12
10
____
30
24
____
12
10
____
30
24
____
mA
mA
L
12
50
____
____
____
____
I SB2
I SB3
I SB4
Standby Current
(One Port - TTL
Level Inputs)
Full Standby Current
(Both Ports -
CMOS Level Inputs)
Full Standby Current
(One Port -
CMOS Level Inputs)
CE "A" = V IL and CE "B" = V IH (5)
Active Port Outputs Disabled,
f=f MAX (3)
SEM R = SEM L = V IH
Both Ports CE L and
CE R > V DD - 0.2V,
V IN > V DD - 0.2V or
V IN < 0.2V, f = 0 (4)
SEM R = SEM L > V DD - 0.2V
CE "A" < 0.2V and
CE "B" > V DD - 0.2V (5)
SEM R = SEM L > V DD - 0.2V
V IN > V DD - 0.2V or V IN < 0.2V
Active Port Outputs Disabled,
f = f MAX (3)
COM'L
IND
COM'L
IND
COM'L
IND
S
L
S
L
S
L
S
L
S
L
S
L
50
50
50
50
1.0
0.2
1.0
0.2
60
60
60
60
95
85
130
105
6
3
6
3
90
80
125
90
45
45
____
____
1.0
0.2
____
____
55
55
____
____
87
75
____
____
6
3
____
____
85
74
____
____
45
45
____
____
1.0
0.2
____
____
55
55
____
____
87
75
____
____
6
3
____
____
85
74
____
____
mA
mA
mA
mA
mA
mA
NOTES:
2945 tbl 09
1. 'X' in part number indicates power rating (S or L)
2. V DD = 3.3V, T A = +25°C, and are not production tested. I CCDC = 80mA (Typ.)
3. At f = f MAX , address and control lines (except Output Enable) are cycling at the maximum frequency read cycle of 1/t RC, and using “AC Test Conditions” of input levels of
GND to 3V.
4. f = 0 means no address or control lines change.
5. Port "A" may be either left or right port. Port "B" is the opposite from port "A".
AC Test Conditions
3.3V
3.3V
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
GND to 3.0V
3ns Max.
1.5V
DATA OUT
BUSY
590 ?
DATA OUT
590 ?
Output Reference Levels
1.5V
435 ?
30pF
435 ?
5pF*
Output Load
Figures 1 and 2
2945 tbl 10
2945 drw 04
Figure 1. AC Output Test Load
2945 drw 05
Figure 2. Output Test Load
,
(for t LZ , t HZ , t WZ , t OW )
* Including scope and jig.
6.42
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PDF描述
IDT70V26S25J8 IC SRAM 256KBIT 25NS 84PLCC
046288012000846+ CONN FFC/FPC 12POS .5MM R/A SMD
006200510130000+ CONN FFC/FPC 10POS 1MM R/A SMD
IDT7026S55JI8 IC SRAM 256KBIT 55NS 84PLCC
IDT7026S35J8 IC SRAM 256KBIT 35NS 84PLCC
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参数描述
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IDT70V27L15PF 功能描述:IC SRAM 512KBIT 15NS 100TQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 标准包装:1,000 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 双端口,同步 存储容量:1.125M(32K x 36) 速度:5ns 接口:并联 电源电压:3.15 V ~ 3.45 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:256-LBGA 供应商设备封装:256-CABGA(17x17) 包装:带卷 (TR) 其它名称:70V3579S5BCI8