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参数资料
| 型号： | IDT70V27L35PFI |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 10/21页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 512KBIT 35NS 100TQFP |
| 标准包装： | 6 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，异步 |
| 存储容量： | 512K (32K x 16) |
| 速度： | 35ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 3 V ~ 3.6 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 产品目录页面： | 1254 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | 70V27L35PFI 800-1392 |
IDT 70V27S/L
High-Speed 3.3V 32K x 16 Dual-Port Static RAM
Commercial and Industrial Temperature Range
AC Electrical Characteristics Over the
Operating Temperature and Supply Voltage (5)
70V27X15
Com'l Only
70V27X20
Com'l & Ind
70V27X25
Com'l Only
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
WRITE CYCLE
t WC
Write Cycle Time
15
____
20
____
25
____
ns
t EW
Chip Enable to End-of-Write
(3)
12
____
15
____
20
____
ns
t AW
t AS
t WP
t WR
t DW
Address Valid to End-of-Write
Address Set-up Time (3)
Write Pulse Width
Write Recovery Time
Data Valid to End-of-Write
12
0
12
0
10
____
____
____
____
____
15
0
15
0
15
____
____
____
____
____
20
0
20
0
15
____
____
____
____
____
ns
ns
ns
ns
ns
t HZ
Output High-Z Time
(1,2)
____
10
____
10
____
15
ns
t DH
Data Hold Time
(4)
0
____
0
____
0
____
ns
t WZ
Write Enable to Output in High-Z (1,2)
____
10
____
10
____
15
ns
t OW
t SWRD
t SPS
Output Active from End-of-Write
SEM Flag Write to Read Time
SEM Flag Contention Window
(1,2,4)
0
5
5
____
____
____
0
5
5
____
____
____
0
5
5
____
____
____
ns
ns
ns
3603 tbl 13a
70V27X35
Com'l & Ind
70V27X55
Com'l Only
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Min.
Max.
Unit
WRITE CYCLE
t WC
t EW
t AW
t AS
t WP
t WR
t DW
Write Cycle Time
Chip Enable to End-of-Write (3)
Address Valid to End-of-Write
Address Set-up Time (3)
Write Pulse Width
Write Recovery Time
Data Valid to End-of-Write
35
30
30
0
25
0
20
____
____
____
____
____
____
____
55
45
45
0
40
0
30
____
____
____
____
____
____
____
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t HZ
Output High-Z Time
(1,2)
____
20
____
25
ns
t DH
Data Hold Time
(4)
0
____
0
____
ns
t WZ
Write Enable to Output in High-Z (1,2)
____
20
____
25
ns
t OW
t SWRD
t SPS
Output Active from End-of-Write
SEM Flag Write to Read Time
SEM Flag Contention Window
(1,2,4)
0
5
5
____
____
____
0
5
5
____
____
____
ns
ns
ns
NOTES:
3603 tbl 13b
1. Transition is measured 0mV from Low or High-impedance voltage with Output Test Load (Figure 2).
2. This parameter is guaranteed by device characterization, but is not production tested.
3. To access RAM CE = V IL and SEM = V IH . To access semaphore, CE = V IH and SEM = V IL . Either condition must be valid for the entire t EW time. Refer to Chip Enable
Truth Table.
4. The specification for t DH must be met by the device supplying write data to the RAM under all operating conditions. Although t DH and t OW values will vary over voltage
and temperature, the actual t DH will always be smaller than the actual t OW .
5. 'X' in part numbers indicates power rating (S or L).
10
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