参数资料
型号: IDT71321LA55TF8
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 5/17页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 16KBIT 55NS 64STQFP
标准包装: 1,250
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 16K (2K x 8)
速度: 55ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 64-LQFP
供应商设备封装: 64-TQFP(10x10)
包装: 带卷 (TR)
其它名称: 71321LA55TF8
IDT71321SA/LA and IDT71421SA/LA
High Speed 2K x 8 Dual-Port Static RAM with Interrupts
Industrial and Commercial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics Over the Operating
Temperature and Supply Voltage Range (V CC = 5.0V ± 10%)
71321SA
71421SA
71321LA
71421LA
Input Leakage Current
Output Leakage Current
Symbol
|I LI |
|I LO |
Parameter
(1)
(1)
Test Conditions
V CC = 5.5V, V IN = 0V to V CC
CE = V IH , V OUT = 0V to V CC ,
Min.
___
___
Max.
10
10
Min.
___
___
Max.
5
5
Unit
μA
μA
V CC - 5.5V
V OL
V OL
V OH
Output Low Voltage (I/O 0 -I/O 7 )
Open Drain Output
Low Voltage ( BUSY / INT )
Output High Voltage
I OL = 4mA
I OL = 16mA
I OH = -4mA
___
___
2.4
0.4
0.5
___
___
___
2.4
0.4
0.5
___
V
V
V
NOTE:
1. At Vcc < 2.0V leakages are undefined.
Data Retention Characteristics (LA Version Only)
2691 tbl 05
Symbol
V DR
Parameter
V CC for Data Retention
Test Condition
Min.
2.0
Typ. (1)
____
Max.
0
Unit
V
I CCDR
t CDR (3)
t R (3)
Data Retention Current
Chip Deselect to Data Retention Time
Operation Recovery Time
V CC = 2.0V, CE > V CC - 0.2V
V IN > V CC - 0.2V or VI N < 0.2V
COM'L
IND
____
____
0
t RC (2)
100
100
____
____
1500
4000
____
____
μA
μA
ns
ns
NOTES:
1. V CC = 2V, T A = +25°C, and is not production tested.
2. t RC = Read Cycle Time
3. This parameter is guaranteed but not production tested.
Data Retention Waveform
DATA RETENTION MODE
2691 tbl 06
V CC
4.5V
V DR ≥ 2.0V
4.5V
CE
t CDR
V DR
t R
V IH
5
6.42
V IH
2691 drw 04
,
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PDF描述
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