参数资料
型号: IDT71T75602S150PFG8
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 20/23页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 18MBIT 150MHZ 100TQFP
标准包装: 1,000
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 同步 ZBT
存储容量: 18M(512K x 36)
速度: 150MHz
接口: 并联
电源电压: 2.375 V ~ 2.625 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 100-LQFP
供应商设备封装: 100-TQFP(14x14)
包装: 带卷 (TR)
其它名称: 71T75602S150PFG8
IDT71T75602, IDT71T75802, 512K x 36, 1M x 18, 2.5V Synchronous ZBT? SRAMs with
2.5V I/O, Burst Counter, and Pipelined Outputs Commercial and Industrial Temperature Ranges
JTAG Interface Specification
t JCYC
t JF
t JCL
t JR
t JCH
TCK
Device Inputs (1) /
TDI/TMS
Device Outputs (2) /
t JS
t JH
t JDC
TDO
TRST ( 3)
t JRSR
t JCD
x
M5313 drw 01
t JRST
NOTES:
1. Device inputs = All device inputs except TDI, TMS and TRST .
2. Device outputs = All device outputs except TDO.
3. During power up, TRST could be driven low or not be used since the JTAG circuit resets automatically. TRST is an optional JTAG reset.
JTAG AC Electrical
Characteristics (1,2,3,4)
Symbol
t JCYC
Parameter
JTAG Clock Input Period
Min.
100
Max.
____
Units
ns
Scan Register Sizes
t JCH
t JCL
t JR
t JF
t JRST
t JRSR
JTAG Clock HIGH
JTAG Clock Low
JTAG Clock Rise Time
JTAG Clock Fall Time
JTAG Reset
JTAG Reset Recovery
40
40
____
____
50
50
____
____
5 (1)
5 (1)
____
____
ns
ns
ns
ns
ns
ns
Register Name
Instruction (IR)
Bypass (BYR)
JTAG Identification (JIDR)
Boundary Scan (BSR)
NOTE:
Bit Size
4
1
32
Note (1)
I5313 tbl 03
t JCD
t JDC
t JS
t JH
JTAG Data Output
JTAG Data Output Hold
JTAG Setup
JTAG Hold
____
0
25
25
20
____
____
____
ns
ns
ns
ns
1. The Boundary Scan Descriptive Language (BSDL) file for this device is available
by contacting your local IDT sales representative.
I5313 tbl 01
NOTES:
1. Guaranteed by design.
2. AC Test Load (Fig. 1) on external output signals.
3. Refer to AC Test Conditions stated earlier in this document.
4. JTAG operations occur at one speed (10MHz). The base device may run at any speed specified in this datasheet.
20
6.42
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