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参数资料
| 型号： | IDT71V546S100PFG |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 13/21页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 4MBIT 100MHZ 100TQFP |
| 标准包装： | 72 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 同步 ZBT |
| 存储容量： | 4.5M（128K x 36） |
| 速度： | 100MHz |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x20） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 71V546S100PFG 800-2325 IDT71V546S100PFG-ND |
IDT71V546, 128K x 36, 3.3V Synchronous SRAM with
ZBT ? Feature, Burst Counter and Pipelined Outputs
Commercial and Industrial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics Over the Operating Temperature
and Supply Voltage Range (V DD = 3.3V +/-5%)
Symbol
|I LI |
|I LI |
|I LO |
V OL
V OH
Parameter
Input Leakage Current
LBO Input Leakage Current (1)
Output Leakage Current
Output Low Voltage
Output High Voltage
Test Conditions
V DD = Max., V IN = 0V to V DD
V DD = Max., V IN = 0V to V DD
CE > V IH or OE > V IH , V OUT = 0V toV DD , V DD = Max.
I OL = 5mA, V DD = Min.
I OH = -5mA, V DD = Min.
Min.
___
___
___
___
2.4
Max.
5
30
5
0.4
___
Unit
μA
μA
μA
V
V
NOTE:
1. The LBO pin will be internally pulled to V DD if it is not actively driven in the application.
DC Electrical Characteristics Over the Opearting Temperature
and Supply Voltage Range (1) (V DD = 3.3V +/-5%, V HD = V DD –0.2V, V LD = 0.2V)
3821 tbl 20
S133
S117
S100
Symbol
I DD
I SB1
I SB2
I SB3
Parameter
Operating Power
Supply Current
CMOS Standby Power
Supply Current
Clock Running Power
Supply Current
Idle Power
Supply Current
Test Conditions
Device Selected, Outputs Open,
ADV/LD = X, V DD = Max., V IN > V IH or < V IL , f = f MAX (2)
Device Deselected, Outputs Open, V DD = Max., V IN >
V HD or < V LD , f = 0 (2)
Device Deselected, Outputs Open, V DD = Max., V IN >
V HD or < V LD , f = f MAX (2)
Device Selected, Outputs Open, CEN > V IH V DD = Max.,
V IN > V HD or < V LD , f = f MAX (2)
Com'l
300
40
110
40
Ind
310
45
120
45
Com'l
275
40
105
40
Ind
285
45
115
45
Com'l
250
40
100
40
Ind
260
45
110
45
Unit
mA
mA
mA
mA
NOTES:
1. All values are maximum guaranteed values.
2. At f = f MAX, inputs are cycling at the maximum frequency of read cycles of 1/t CYC ; f=0 means no input lines are changing.
3821 tbl 21
AC Test Loads
+ 1.5V
50 ?
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
0 to 3V
2ns
I/O
Z 0 = 50 ?
3821 drw 04
,
Input Timing Reference Levels
Output Timing Reference Levels
AC Test Load
1.5V
1.5V
See Figures 1
? tCD
6
5
4
3
(Typical, ns)
2
1
Figure 1. AC Test Load
3821 tbl 22
20 30 50
80 100
200
Capacitance (pF)
3821 drw 05
Figure 2. Lumped Capacitive Load, Typical Derating
,
13
6.42
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