参数资料
型号: IDT71V547S100PFGI
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 15/19页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 4MBIT 100NS 100TQFP
标准包装: 72
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 同步 ZBT
存储容量: 4.5M(128K x 36)
速度: 100ns
接口: 并联
电源电压: 3.135 V ~ 3.465 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 100-LQFP
供应商设备封装: 100-TQFP(14x14)
包装: 托盘
其它名称: 71V547S100PFGI
tCYC
CLK
tSE
tCH
tCL
tHE
CEN
tSADV
tHADV
ADV/ LD
tSW
tHW
R/ W
tSA
tHA
ADDRESS
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A7
A8
A9
tSC
tHC
CE 1 , CE 2 (2)
tSB
tHB
BW 1 - BW 4
B(A2)
B(A4)
B(A5)
B(A8)
OE
tSD tHD
DATA In
DATA Out
tCD
Q(A1)
Read
Write
tCHZ
D(A2)
tCLZ
Q(A3)
Read
tCDC
Write
D(A4)
Write
D(A5)
Q(A6)
Read
Q(A7)
Read
Write
D(A8)
NOTES:
3822 drw 08
1. Q (A 1 ) represents the first output from the external address A 1 . D (A 2 ) represents the input data to the SRAM corresponding to address A 2 .
2. CE 2 timing transitions are identical but inverted to the CE 1 and CE 2 signals. For example, when CE 1 and CE 2 are LOW on this waveform, CE 2 is HIGH.
3. Individual Byte Write signals ( BW x) must be valid on all write and burst-write cycles. A write cycle is initiated when R/ W signal is sampled LOW. The byte write information
comes in one cycle before the actual data is presented to the SRAM.
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