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参数资料
| 型号： | KIT33879AEKEVBE |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 12/23页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVALUATION FOR MC33879 |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 电源管理，高端和低端驱动器（内部 FET） |
| 嵌入式： | 否 |
| 已用 IC / 零件： | MC33879 |
| 主要属性： | 8 个输出硬件-可配置 |
| 次要属性： | 16 位串行输入控制 |
| 已供物品： | 板，CD |
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
TYPICAL ELECTRICAL CHARACTERISTICS
0.2 V DD
SCLK
V DD = 5.0 V
33879
Under
Test
DO
C L = 200 pF
t R(DI)
0.7 V DD
SCLK
DO
(Low-to-High)
< 50 ns
50%
t R(DO
t F(DI
0.7 V DD
< 50 ns
3.3/5.0 V
0.2 V DD
0V
V OH
V OL
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
DO
(High-to-Low) 0.7 V DD
t VALID
0.2
V OH
V OL
Figure 5. Valid Data Delay Time
and Valid Time Test Circuit
t F(CS)
t R(CS)
Figure 6. Valid Data Delay Time
and Valid Time Waveforms
CS
< 50 ns
90%
< 50 ns
0.7 V DD
3.3/5.0 V
0.2 V DD
10%
t DO(EN)
t DO(DIS)
0V
DO
(Tri-State to Low)
90%
V Tri-State
10%
V OL
t DO(EN)
90%
t DO(DIS)
V OH
DO
10%
V Tri-State
(Tri-State to High)
Figure 7. Enable and Disable Time Waveforms
TYPICAL ELECTRICAL CHARACTERISTICS
20
19
18
17
16
15
14
V PWR @ 18 V
33879
33879A
7
6
5
4
3
2
1
V PWR @ 13 V
-40 -25
0
25
50
75
100
125
-40 -25
0
25
50
75
100
125
T A, Ambient Temperature ( ?? C
Figure 8. I PWR vs. Temperature
T A, Ambient Temperature ( ?? C
Figure 9. Sleep State I PWR vs. Temperature
33879
Analog Integrated Circuit Device Data ?
12
Freescale Semiconductor
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PDF描述 |
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参数描述 |
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