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参数资料
| 型号： | KIT33880DWBEVB |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 9/25页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | KIT EVAL FOR MC33880 8X SW W/SPI |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 电源管理，高端和低端驱动器（内部 FET） |
| 嵌入式： | 否 |
| 已用 IC / 零件： | MC33880 |
| 主要属性： | 8 个可配置高/低 FET，5.5 ~ 24.5V，0.8 ~ 2A，0.55 欧 |
| 次要属性： | SPI 接口，反向电池，温度，短路，电流限制保护 |
| 已供物品： | 板，软件 |
| 产品目录页面： | 808 (CN2011-ZH PDF) |
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ELECTRICAL CHARACTERISTICS
TIMING DIAGRAMS
TIMING DIAGRAMS
CS
0.2 V DD
t LEAD
t LAG
SCLK
0.7 V DD
0.2 V DD
t DI(SU) t DI(HOLD)
DI
0.7 V DD
0.2 V DD
MSB in
t DO(EN)
t VALID
t DO(DIS)
DO
0.7 V DD
0.2 V DD
MSB out
LSB out
Figure 5. SPI Timing Diagram
V DD = 5.0 V
33880
V DD = 5.0 V
V PWR = 13 V
SCLK
Under
Test
DO
C L = 200 pF
CS
33880
Under
Test
R L = 620 Ω
Output
C L
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
Figure 6. Valid Data Delay Time
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
and Valid Time Test Circuit
Figure 8. Switching Time Test Circuit
V DD = 5.0 V
33880
V Pull-Up = 2.5 V
R L = 1.0 k Ω
CS
Under
DO
Test
C L = 200 pF
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
Figure 7. Enable and Disable Time Test Circuit
33880
Analog Integrated Circuit Device Data
Freescale Semiconductor
9
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PDF描述 |
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