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参数资料
| 型号： | MCF5208CVM166 |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 35/46页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MCU 32-BIT 196-MAPBGA |
| 标准包装： | 126 |
| 系列： | MCF520x |
| 核心处理器： | Coldfire V2 |
| 芯体尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 166.67MHz |
| 连通性： | EBI/EMI，以太网，I²C，SPI，UART/USART |
| 外围设备： | DMA，WDT |
| 输入/输出数： | 50 |
| 程序存储器类型： | ROMless |
| RAM 容量： | 16K x 8 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 1.4 V ~ 3.6 V |
| 振荡器型： | 外部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 196-LBGA |
| 包装： | 托盘 |
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MCF5208 ColdFire Microprocessor Data Sheet, Rev. 3
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
40
5.15 JTAG and Boundary Scan Timing
Figure 28. Test Clock Input Timing
Table 24. JTAG and Boundary Scan Timing
Num
Characteristics1
NOTES:
1
JTAG_EN is expected to be a static signal. Hence, specific timing is not associated with it.
Symbol
Min
Max
Unit
J1
TCLK Frequency of Operation
fJCYC
DC
1/4
fsys/2
J2
TCLK Cycle Period
tJCYC
4—
tCYC
J3
TCLK Clock Pulse Width
tJCW
26
—
ns
J4
TCLK Rise and Fall Times
tJCRF
03
ns
J5
Boundary Scan Input Data Setup Time to TCLK Rise
tBSDST
4—
ns
J6
Boundary Scan Input Data Hold Time after TCLK Rise
tBSDHT
26
—
ns
J7
TCLK Low to Boundary Scan Output Data Valid
tBSDV
033
ns
J8
TCLK Low to Boundary Scan Output High Z
tBSDZ
033
ns
J9
TMS, TDI Input Data Setup Time to TCLK Rise
tTAPBST
4—
ns
J10
TMS, TDI Input Data Hold Time after TCLK Rise
tTAPBHT
10
—
ns
J11
TCLK Low to TDO Data Valid
tTDODV
026
ns
J12
TCLK Low to TDO High Z
tTDODZ
08
ns
J13
TRST Assert Time
tTRSTAT
100
—
ns
J14
TRST Setup Time (Negation) to TCLK High
tTRSTST
10
—
ns
TCLK
VIL
VIH
J3
J4
J2
(input)
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| MCF52100CAE80 | 功能描述:32位微控制器 - MCU KIRIN0 WITHOUT USB RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT |
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