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参数资料
| 型号： | OP484FSZ-REEL7 |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 20/24页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC OPAMP GP R-R 4.25MHZ 14SOIC |
| 标准包装： | 1 |
| 放大器类型： | 通用 |
| 电路数： | 4 |
| 输出类型： | 满摆幅 |
| 转换速率： | 4 V/µs |
| 增益带宽积： | 4.25MHz |
| 电流 - 输入偏压： | 80nA |
| 电压 - 输入偏移： | 250µV |
| 电流 - 电源： | 2.25mA |
| 电流 - 输出 / 通道： | 10mA |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 3 V ~ 36 V，±1.5 V ~ 18 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 14-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 14-SO |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
| 其它名称： | OP484FSZ-REEL7CT |
OP184/OP284/OP484
Rev. J | Page 5 of 24
VS = ±15.0 V, VCM = 0 V, TA = 25°C, unless otherwise noted.
Table 4.
Parameter
Symbol
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
VOS
100
μV
40°C ≤ TA ≤ +125°C
200
μV
VOS
175
μV
40°C ≤ TA ≤ +125°C
375
μV
VOS
150
μV
40°C ≤ TA ≤ +125°C
300
μV
VOS
250
μV
40°C ≤ TA ≤ +125°C
500
μV
Input Bias Current
IB
80
450
nA
40°C ≤ TA ≤ +125°C
575
nA
Input Offset Current
IOS
40°C ≤ TA ≤ +125°C
50
nA
Input Voltage Range
15
+15
V
Common-Mode Rejection Ratio
CMRR
VCM = 14.0 V to +14.0 V, 40°C ≤ TA ≤ +125°C
86
90
dB
VCM = 15.0 V to +15.0 V
80
dB
Large Signal Voltage Gain
AVO
RL = 2 k, 10 V ≤ VO ≤ 10 V
150
1000
V/mV
RL = 2 k, 40°C ≤ TA ≤ +125°C
75
V/mV
Offset Voltage Drift E Grade
ΔVOS/ΔT
0.2
2.00
μV/°C
Bias Current Drift
ΔVB/ΔT
150
pA/°C
OUTPUT CHARACTERISTICS
Output Voltage High
VOH
IL = 1.0 mA
14.8
V
Output Voltage Low
VOL
IL = 1.0 mA
14.875
V
Output Current
IOUT
±10
mA
POWER SUPPLY
Power Supply Rejection Ratio
PSRR
VS = ±2.0 V to ±18 V, 40°C ≤ TA ≤ +125°C
90
dB
Supply Current/Amplifier
ISY
VO = 0 V, 40°C ≤ TA ≤ +125°C
2.0
mA
Supply Current/Amplifier
ISY
VS = ±18 V, 40°C ≤ TA ≤ +125°C
2.25
mA
DYNAMIC PERFORMANCE
Slew Rate
SR
RL = 2 k
2.4
4.0
V/s
Full-Power Bandwidth
BWp
1% distortion, RL = 2 k, VO = 29 V p-p
35
kHz
Settling Time
tS
To 0.01%, 10 V step
4
s
Gain Bandwidth Product
GBP
4.25
MHz
Phase Margin
ΦM
50
Degrees
NOISE PERFORMANCE
Voltage Noise
en p-p
0.1 Hz to 10 Hz
0.3
V p-p
Voltage Noise Density
en
f = 1 kHz
3.9
nV/√Hz
Current Noise Density
in
0.4
pA/√Hz
1
Input offset voltage measurements are performed by automated test equipment approximately 0.5 seconds after application of power.
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