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参数资料
| 型号： | ST62P09CB6/XXX |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PDIP20 |
| 封装： | 0.300 INCH, PLASTIC, DIP-20 |
| 文件页数： | 67/104页 |
| 文件大小： | 1487K |
| 代理商： | ST62P09CB6/XXX |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页当前第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页
ST6208C/ST6209C/ST6210C/ST6220C
65/104
OPERATING CONDITIONS (Cont’d)
10.3.2 Operating Conditions with Low Voltage Detector (LVD)
Subject to general operating conditions for VDD, fOSC, and TA.
Notes:
1. LVD typical data are based on TA=25°C. They are given only as design guidelines and are not tested.
2. The minimum VDD rise time rate is needed to insure a correct device power-on and LVD reset. Not tested in production.
3. Data based on characterization results, not tested in production.
Figure 39. LVD Threshold Versus VDD and fOSC
3)
Figure 40. Typical LVD Thresholds Versus
Temperature for OTP devices
Figure
41.
Typical
LVD
thresholds
vs.
Temperature for ROM devices
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ 1)
Max
Unit
VIT+
Reset release threshold
(VDD rise)
3.9
4.1
4.3
V
VIT-
Reset generation threshold
(VDD fall)
3.6
3.8
4
Vhys
LVD voltage threshold hysteresis
VIT+-VIT-
50
300
700
mV
VtPOR
VDD rise time rate
2)
mV/s
tg(VDD)
Filtered glitch delay on VDD
3)
Not detected by the LVD
30
ns
fOSC [MHz]
SUPPLY
8
4
0
2.5
3
3.5
4
4.5
5
5.5
FUNCTIONAL AREA
RESET
FUNCTIONALITY
NOT GUARANTEED
IN THIS AREA
VIT-≥3.6
DEVICE UNDER
IN THIS AREA
6
VOLTAGE [V]
-40°C25°C95°C
125°C
T [°C]
3.6
3.8
4
4.2
Thresholds [V]
Vdd up
Vdd down
VIT+
VIT-
-40°C25°C95°C
125°C
T [°C]
3.6
3.8
4
4.2
Thresholds [V]
Vdd up
Vdd down
VIT+
VIT-
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PDF描述 |
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