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参数资料
| 型号： | ST7263BK1B/XXX |
| 厂商： | STMICROELECTRONICS |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, MROM, 8 MHz, MICROCONTROLLER, PDIP32 |
| 封装： | 0.400 INCH, LEAD FREE, SHRINK, PLASTIC, DIP-32 |
| 文件页数： | 28/140页 |
| 文件大小： | 1423K |
| 代理商： | ST7263BK1B/XXX |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页当前第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页
ST7263B
123/140
8-BIT ADC CHARACTERISTICS (Cont’d)
ADC Accuracy with VDD=5V, fCPU=8 MHz, fADC=4 MHz RAIN< 10k
Notes:
1. ADC Accuracy vs. Negative Injection Current:
For IINJ-=0.8mA, the typical leakage induced inside the die is 1.6A and the effect on the ADC accuracy is a loss of 1 LSB
for each 10K
increase of the external analog source impedance. This effect on the ADC accuracy has been observed
under worst-case conditions for injection:
- negative injection
- injection to an Input with analog capability, adjacent to the enabled Analog Input
- at 5V VDD supply, and worst case temperature.
2. Data based on characterization results over the whole temperature range, not tested in production.
3. Data based on characterization results, to guarantee 99.73% within ± max value from 0°C to 70°C ( ± 3
σ distribution
limits).
Figure 74. ADC Accuracy Characteristics
Symbol
Parameter
Typ
Max 2) 3)
|ET|
Total unadjusted error 1)
1.5
2
|EO|
Offset error 1)
0.5
1
|EG|
Gain Error 1)
0.5
1.5
|ED|
Differential linearity error 1)
11.5
|EL|
Integral linearity error 1)
11.5
EO
EG
1LSBIDEAL
1LSB
IDEAL
V
DDA
V
SSA
–
256
-----------------------------------------
=
Vin (LSBIDEAL)
(1) Example of an actual transfer curve
(2) The ideal transfer curve
(3) End point correlation line
ET=Total Unadjusted Error: maximum deviation
between the actual and the ideal transfer curves.
EO=Offset Error: deviation between the first actual
transition and the first ideal one.
EG=Gain Error: deviation between the last ideal
transition and the last actual one.
ED=Differential Linearity Error: maximum deviation
between actual steps and the ideal one.
EL=Integral Linearity Error: maximum deviation
between any actual transition and the end point
correlation line.
Digital Result ADCDR
255
254
253
5
4
3
2
1
0
7
6
1
234
567
253 254 255 256
(1)
(2)
ET
ED
EL
(3)
VDDA
VSSA
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