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参数资料
| 型号： | TSC80C31-25IDD |
| 厂商： | ATMEL CORP |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP44 |
| 封装： | PLASTIC, QFP-44 |
| 文件页数： | 60/132页 |
| 文件大小： | 10886K |
| 代理商： | TSC80C31-25IDD |
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265
8151H–AVR–02/11
ATmega128A
24.13.6
Scanning the ADC
Figure 24-13 shows a block diagram of the ADC with all relevant control and observe signals.
The Boundary-scan cell from Figure 24-8 is attached to each of these signals. The ADC need
not be used for pure connectivity testing, since all analog inputs are shared with a digital port pin
as well.
Figure 24-13. Analog to Digital Converter
The signals are described briefly in Table 24-5.
ACO
Output
Analog Comparator
Output
Will become input
to C code being
executed
0
ACME
Input
Uses output signal
from ADC mux
when true
0
Depends upon C code
being executed
ACBG
Input
Bandgap Reference
enable
0
Depends upon C code
being executed
Table 24-4.
Boundary-scan Signals for the Analog Comparator
Signal
Name
Direction as
Seen from the
Comparator
Description
Recommended
Input when not
in Use
Output values when
Recommended Inputs
are Used
10-bit DAC
+
-
AREF
PRECH
DACOUT
COMP
MUXEN_7
ADC_7
MUXEN_6
ADC_6
MUXEN_5
ADC_5
MUXEN_4
ADC_4
MUXEN_3
ADC_3
MUXEN_2
ADC_2
MUXEN_1
ADC_1
MUXEN_0
ADC_0
NEGSEL_2
ADC_2
NEGSEL_1
ADC_1
NEGSEL_0
ADC_0
EXTCH
+
-
+
-
10x
20x
G10
G20
ST
ACLK
AMPEN
2.56V
ref
IREFEN
AREF
VCCREN
DAC_9..0
ADCEN
HOLD
PRECH
GNDEN
PASSEN
ACTEN
COMP
SCTEST
ADCBGEN
To Comparator
1.22V
ref
AREF
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