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参数资料
| 型号： | W24L257Q70LL |
| 英文描述： | x8 SRAM |
| 中文描述： | x8的SRAM |
| 文件页数： | 7/11页 |
| 文件大小： | 213K |
| 代理商： | W24L257Q70LL |
W24L257
Publication Release Date: October 3, 2001
- 7 -
Revision A5
DATA RETENTION CHARACTERISTICS
(T
A
(
°
C) = 0 to 70 for L/LL, -20 to 85 for LE, -40 to 85 for LI)
PARAMETER
SYM.
TEST CONDITIONS
MIN.
TYP.
MAX. UNIT
V
DD
for Data Retention
V
DR
#CS
≥
V
DD
-0.2V
I
DDDR
#CS
≥
V
DD
-0.2V,
V
DD
= 3V
2.0
-
-
V
LL/LE/LI
-
-
15
μ
A
μ
A
nS
Data Retention Current
L
-
-
30
Chip Deselect to Data
Retention Time
T
CDR
See data retention waveform
0
-
-
Operation Recovery Time
T
R
T
RC
*
-
-
nS
*
Read Cycle Time
DATA RETENTION WAVEFORM
T
CDR
-0.2V
DD
V
V
DD
#CS
T
R
#CS
V
DR
2V
=
=
0.9
DD
V
0.9
DD
V
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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