参数资料
| 型号： | X9118TV14-2.7 |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 3/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC XDCP SGL 1024TAP 100K 14TSSOP |
| 标准包装： | 95 |
| 系列： | XDCP™ |
| 接片： | 1024 |
| 电阻（欧姆）： | 100k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 ±300 ppm/°C |
| 存储器类型： | 非易失 |
| 接口： | I²C（设备位址） |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 14-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 14-TSSOP |
| 包装： | 管件 |
11
FN8161.4
December 4, 2009
DC Operating SpecificationsOver the recommended operating conditions unless otherwise specified.
SYMBOL
PARAMETER
TEST CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
ICC1
VCC Supply Current (Active)
fSCL = 400kHz; VCC = +5.5V; SDA = Open;
(for 2-wire, Active, Read and Volatile Write States only)
3mA
ICC2
VCC Supply Current (Nonvolatile Write) fSCL = 400kHz; VCC = +5.5V; SDA = Open;
(for 2-wire, Active, Non-volatile Write State only)
7mA
ISB
VCC Current (Standby)
VCC = +5.5V; VIN = VSS or VCC; SDA = VCC;
(for 2-wire, Standby State only)
15
μA
ILI
Input Leakage Current
VIN = VSS to VCC
10
μA
ILO
Output Leakage Current
VOUT = VSS to VCC
10
μA
VIH
Input HIGH Voltage
VCC x 0.7
VCC + 1
V
VIL
Input LOW Voltage
-1
VCC x 0.3
V
VOL
Output LOW Voltage
IOL = 3mA
0.4
V
Endurance and Data Retention
PARAMETER
MIN
UNITS
Minimum Endurance
100,000
Data changes per bit per register
Data Retention
100
years
Capacitance
SYMBOL
TEST
TYP
UNITS
TEST CONDITIONS
8
pF
VOUT = 0V
Input Capacitance (SCL, WP, A1 and A0)
6
pF
VIN = 0V
Power-Up Timing
SYMBOL
PARAMETER
MIN
MAX
UNITS
VCC Power-up Rate
0.2
50
V/ms
Power-up to Initiation of Read Operation
1
ms
Power-up to Initiation of Write Operation
50
ms
NOTES:
9. This parameter is not 100% tested
10. tPUR and tPUW are the delays required from the time the (last) power supply (VCC-) is stable until the specific instruction can be issued. These
parameters are periodically sampled and not 100% tested.
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
VCC x 0.1 to VCC x 0.9
Input Rise and Fall Times
10ns
Input and Output Timing Level
VCC x 0.5
X9118
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