参数资料
| 型号： | A3PN010-QNG48 |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 44/114页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA NANO 10K GATES 48-QFN |
| 标准包装： | 260 |
| 系列： | ProASIC3 nano |
| 输入/输出数： | 34 |
| 门数： | 10000 |
| 电源电压： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 48-VFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 48-QFN（6x6） |
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ProASIC3 nano Flash FPGAs
Revision 11
2-21
Table 2-25 Schmitt Trigger Input Hysteresis
Hysteresis Voltage Value (Typ.) for Schmitt Mode Input Buffers
Input Buffer Configuration
Hysteresis Value (typ.)
3.3 V LVTTL / LVCMOS (Schmitt trigger mode)
240 mV
2.5 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
140 mV
1.8 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
80 mV
1.5 V LVCMOS (Schmitt trigger mode)
60 mV
Table 2-26 I/O Input Rise Time, Fall Time, and Related I/O Reliability
Input Buffer
Input Rise/Fall Time (min.) Input Rise/Fall Time (max.)
Reliability
LVTTL/LVCMOS
(Schmitt
trigger
disabled)
No requirement
10 ns *
20 years (100°C)
LVTTL/LVCMOS
(Schmitt
trigger
enabled)
No requirement
No requirement, but input
noise voltage cannot exceed
Schmitt hysteresis
20 years (100°C)
Note: The maximum input rise/fall time is related to the noise induced into the input buffer trace. If the
noise is low, then the rise time and fall time of input buffers can be increased beyond the
maximum value. The longer the rise/fall times, the more susceptible the input signal is to the
board noise. Microsemi recommends signal integrity evaluation/characterization of the system to
ensure that there is no excessive noise coupling into input signals.
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PDF描述 |
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参数描述 |
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