参数资料
| 型号： | A3PN250-Z2VQG100 |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 103/114页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | ProASIC3 nano |
| RAM 位总计： | 36864 |
| 输入/输出数： | 68 |
| 门数： | 250000 |
| 电源电压： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 100-TQFP |
| 供应商设备封装： | 100-VQFP（14x14） |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页当前第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页
ProASIC3 nano Flash FPGAs
Revision 11
3-3
JTAG Pins
Low power flash devices have a separate bank for the dedicated JTAG pins. The JTAG pins can be run
at any voltage from 1.5 V to 3.3 V (nominal). VCC must also be powered for the JTAG state machine to
operate, even if the device is in bypass mode; VJTAG alone is insufficient. Both VJTAG and VCC to the
part must be supplied to allow JTAG signals to transition the device. Isolating the JTAG power supply in a
separate I/O bank gives greater flexibility in supply selection and simplifies power supply and PCB
design. If the JTAG interface is neither used nor planned for use, the VJTAG pin together with the TRST
pin could be tied to GND.
TCK
Test Clock
Test clock input for JTAG boundary scan, ISP, and UJTAG. The TCK pin does not have an internal pull-
up/-down resistor. If JTAG is not used, Microsemi recommends tying off TCK to GND through a resistor
placed close to the FPGA pin. This prevents JTAG operation in case TMS enters an undesired state.
Note that to operate at all VJTAG voltages, 500
to 1 k will satisfy the requirements. Refer to Table 3-1
for more information.
TDI
Test Data Input
Serial input for JTAG boundary scan, ISP, and UJTAG usage. There is an internal weak pull-up resistor
on the TDI pin.
TDO
Test Data Output
Serial output for JTAG boundary scan, ISP, and UJTAG usage.
TMS
Test Mode Select
The TMS pin controls the use of the IEEE 1532 boundary scan pins (TCK, TDI, TDO, TRST). There is an
internal weak pull-up resistor on the TMS pin.
TRST
Boundary Scan Reset Pin
The TRST pin functions as an active-low input to asynchronously initialize (or reset) the boundary scan
circuitry. There is an internal weak pull-up resistor on the TRST pin. If JTAG is not used, an external pull-
down resistor could be included to ensure the test access port (TAP) is held in reset mode. The resistor
values must be chosen from Table 3-1 and must satisfy the parallel resistance value requirement. The
values in Table 3-1 correspond to the resistor recommended when a single device is used, and the
equivalent parallel resistor when multiple devices are connected via a JTAG chain.
In critical applications, an upset in the JTAG circuit could allow entrance to an undesired JTAG state. In
such cases, Microsemi recommends tying off TRST to GND through a resistor placed close to the FPGA
pin.
Note that to operate at all VJTAG voltages, 500 W to 1 kW will satisfy the requirements.
Table 3-1 Recommended Tie-Off Values for the TCK and TRST Pins
VJTAG
Tie-Off Resistance
VJTAG at 3.3 V
200
to 1 k
VJTAG at 2.5 V
200
to 1 k
VJTAG at 1.8 V
500
to 1 k
VJTAG at 1.5 V
500
to 1 k
Notes:
1. Equivalent parallel resistance if more than one device is on the JTAG chain
2. The TCK pin can be pulled up/down.
3. The TRST pin is pulled down.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| A3PN250-Z2VQ100 | IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP |
| RCB75DHBN | CONN EDGECARD 150PS R/A .050 DIP |
| EX64-TQG100 | IC FPGA ANTIFUSE 3K 100-TQFP |
| EX64-TQ100 | IC FPGA ANTIFUSE 3K 100-TQFP |
| RCB75DHBD | CONN EDGECARD 150PS R/A .050 DIP |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| A3PN250-Z2VQG100I | 功能描述:IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:ProASIC3 nano 标准包装:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:792 RAM 位总计:- 输入/输出数:120 门数:30000 电源电压:1.14 V ~ 1.575 V 安装类型:表面贴装 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:289-TFBGA，CSBGA 供应商设备封装:289-CSP（14x14） |
| A3PN250-ZVQ100 | 功能描述:IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:ProASIC3 nano 标准包装:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:792 RAM 位总计:- 输入/输出数:120 门数:30000 电源电压:1.14 V ~ 1.575 V 安装类型:表面贴装 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:289-TFBGA，CSBGA 供应商设备封装:289-CSP（14x14） |
| A3PN250-ZVQ100I | 功能描述:IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:ProASIC3 nano 标准包装:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:792 RAM 位总计:- 输入/输出数:120 门数:30000 电源电压:1.14 V ~ 1.575 V 安装类型:表面贴装 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:289-TFBGA，CSBGA 供应商设备封装:289-CSP（14x14） |
| A3PN250-ZVQG100 | 功能描述:IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:ProASIC3 nano 标准包装:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:792 RAM 位总计:- 输入/输出数:120 门数:30000 电源电压:1.14 V ~ 1.575 V 安装类型:表面贴装 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:289-TFBGA，CSBGA 供应商设备封装:289-CSP（14x14） |
| A3PN250-ZVQG100I | 功能描述:IC FPGA NANO 250K GATES 100-VQFP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（现场可编程门阵列） 系列:ProASIC3 nano 标准包装:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB数:- 逻辑元件/单元数:792 RAM 位总计:- 输入/输出数:120 门数:30000 电源电压:1.14 V ~ 1.575 V 安装类型:表面贴装 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:289-TFBGA，CSBGA 供应商设备封装:289-CSP（14x14） |
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。