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参数资料
| 型号： | ADUC7039BCP6Z-RL |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 42/92页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MCU ARM7 BATT SENSER 32LFCSP |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | MicroConverter® ADuC7xxx |
| 核心处理器： | ARM7 |
| 芯体尺寸： | 16/32-位 |
| 速度： | 20.48MHz |
| 连通性： | LIN，SPI |
| 外围设备： | POR，温度传感器，WDT |
| 输入/输出数： | 6 |
| 程序存储器容量： | 64KB（32K x 16） |
| 程序存储器类型： | 闪存 |
| RAM 容量： | 1K x 32 |
| 电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： | 3.5 V ~ 18 V |
| 数据转换器： | A/D 2x16b |
| 振荡器型： | 内部 |
| 工作温度： | -40°C ~ 115°C |
| 封装/外壳： | 32-VFQFN 裸露焊盘，CSP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
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Data Sheet
ADuC7039
Rev. D | Page 47 of 92
The fast temperature option cannot be used on the first con-
version after ADC power-on. It can only be set after at least
the first ADC interrupt. Waiting for a valid ADC result is
not necessary. Also, a restriction when using the fast tempera-
ture mode is to ensure that SF >=1. In addition, a conversion
rate of 1 ms is recommended in this mode of operation. This is
to ensure the fast result occurs simultaneously with the current
channel result.
When changing the ADCs configuration, by writing ADCMDE,
ADC0CON or ADCFLT, the fast temperature bit must also be
cleared to ensure correct operation. This condition is similar to
a first conversion after ADC power-on.
I-ADC DIAGNOSTICS
The ADuC7039 features the capability to detect open-circuit
conditions on the application board. This is accomplished using
the two current sources on IIN+ and IIN; these are controlled
via ADC0CON[14:13].
Note that these current sources have a tolerance of ±30%.
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