参数资料
| 型号： | AGLE3000V2-FGG484I |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 125/166页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1KB FLASH 3M 484-FBGA |
| 标准包装： | 60 |
| 系列： | IGLOOe |
| 逻辑元件/单元数： | 75264 |
| RAM 位总计： | 516096 |
| 输入/输出数： | 341 |
| 门数： | 3000000 |
| 电源电压： | 1.14 V ~ 1.575 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 484-BGA |
| 供应商设备封装： | 484-FPBGA（23x23） |
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IGLOOe Low Power Flash FPGAs
Revision 13
2-47
1.2 V LVCMOS (JESD8-12A)
Low-Voltage CMOS for 1.2 V complies with the LVCMOS standard JESD8-12A for general purpose 1.2 V
applications. It uses a 1.2 V input buffer and a push-pull output buffer.
Table 2-64 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
Applicable to Advanced I/O Banks
1.2 V
LVCMOS1
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL IOH
IOSH
IOSL IIL2 IIH3
Drive
Strength
Min.
V
Max.
V
Min.
V
Max.
V
Max.
V
Min.
VmA mA
Max.
mA4
Max.
mA4
A5 A5
2 mA
–0.3 0.35 * VCCI 0.65 * VCCI
3.6
0.25 * VCCI 0.75 * VCCI 2
2
20
26
10 10
Notes:
1. Applicable to V2 devices ONLY.
2. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operation conditions where –0.3 V < VIN < VIL.
3. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions VIH < VIN < VCCI. Input current is
larger when operating outside recommended ranges.
4. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
5. Currents are measured at 85°C junction temperature.
6. Software default selection highlighted in gray.
Figure 2-11 AC Loading
Table 2-65 AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input Low (V)
Input High (V)
Measuring Point* (V)
VREF (typ.) (V)
CLOAD (pF)
01.2
0.6
–
5
Test Point
Enable Path
Datapath
5 pF
R = 1 k
R to VCCI for tLZ / tZL / tZLS
R to GND for tHZ / tZH / tZHS
5 pF for tZH / tZHS / tZL / tZLS
5 pF for tHZ / tLZ
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