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参数资料
| 型号： | AT89C51CC03 |
| 厂商： | Atmel, Corp. |
| 元件分类： | 8位微控制器 |
| 英文描述： | Enhanced 8-bit MCU with CAN Controller and Flash Memory |
| 中文描述： | 增强型8位微控制器带CAN控制器和闪存 |
| 文件页数： | 8/24页 |
| 文件大小： | 1379K |
| 代理商： | AT89C51CC03 |
AT89C51RD2 / AT89C51ED2 QualPack
8 Rev. 0 – 2003 July
4.2 Qualification Test Methods
General Requirements for Plastic packaged CMOS ICs:
Standard
MIL-STD 883
Method 1005
MIL-STD 883
Method 1005
MIL-STD 883
Method 3015.7
JEDEC 78
50mW power injection, 50% overvoltage @125°C
AEC Q100
Method 005
Program Erase Cycles 25°C
AEC Q100
Method 005
High Temperature Storage 165°C
MIL-STD 883
Method 1010
1000 cycles –65°C/150°C air/air
Atmel
PAQA0184
EIA
JESD22-A101
EIA
JESD22-A110
EIA
JEDEC 20-STD
Soldering Stress 220°C/235°c/3 times
MIL-STD 883
Method 2003
MIL-STD 883
Method 2015
Test Description
Acceptance
Electrical Life Test (Early Failure Rate)
48 hours 140°C
0/300 - 48h
Electrical Life Test (Latent Failure Rate)
1000 hours 140°C Dynamic or Static
0/100 - 500h
Electrostatic Discharge HBM
+/-2000v 1.5kOhm/100pF/3 pulses
0/3 per level
Latch up
0/5 per stress
NVM Endurance
0/50 - 10kc
NVM Data Retention
0/50 - 500h
Temperature Cycling
0/50 - 500c
HAST after Preconditioning
144 hours 130°C/85%RH
0/50 – 96h
85/85 Humidity Test
1000 hours 85°C/85%RH
0/50 - 500h
HAST
336 hours 130°C/85%RH
0/50 - 168h
Preconditioning
0/11 per class
Solderability
0/3
Marking Permanency
0/5
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| AT89C51CC03_03 | 制造商:ATMEL 制造商全称:ATMEL Corporation 功能描述:Enhanced 8-bit MCU with CAN Controller and Flash Memory |
| AT89C51CC03_06 | 制造商:ATMEL 制造商全称:ATMEL Corporation 功能描述:Enhanced 8-bit MCU with CAN Controller and Flash Memory |
| AT89C51CC03_08 | 制造商:ATMEL 制造商全称:ATMEL Corporation 功能描述:CAN Microcontrollers |
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| AT89C51CC03CA-7CTUM | 制造商:ATMEL 制造商全称:ATMEL Corporation 功能描述:Enhanced 8-bit MCU with CAN Controller and Flash Memory |
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